[发明专利]物料承接收集装置

说明书

本发明提供一种物料承接收集装置，设有一框架，包括：一位于上方呈水平设置的上框座，一位于下方呈水平设置并与上框座平行的下框座，二位于上框座、下框座间呈垂直立设于左右两侧的左框座、右框座，一位于相对操作者位置为后侧之后框座，上框座、下框座、左框座、右框座、后框座共同围设提供一容置空间，并设有开放镂空的置入口；多个料盒，设于该框架容置空间中，每一料盒位于相对操作者位置为前侧的前盒座上各设有一握把；各料盒呈X轴向并列设置于容置空间中，各料盒可经握把由Y轴向朝操作者位置方向抽移出该框架设有相隔间距列设的极限开关，每一极限开关各对应一料盒。

【技术领域】

本发明是有关于一种承接装置，尤指一种可用以承接经检测或分选后的电子元件，并将其依不同分类予以承接收集的物料承接收集装置。

【背景技术】

按，一般被动元件或LED发光二极管等电子元件通常必须经由检测其物理特性后予以分类，并将其依不同的条件属性进行收集；常见的承接收集装置采用多个管状直立式料盒呈矩阵排列，并各以开口朝上地设于一抽屉式盒架上，每一料盒开口上方对应各设有接管连接至分选盘周缘，并借由气压吹送将由分选盘排出的物料分别排至预定的料盒。

【发明内容】

此种承接收集装置若使用于被动元件或LED发光二极管等电子元件，由于必须承接大约128种的分类或高达256种的分类，故在一抽屉式盒架上必须插置有高达128个或256个直立式料盒，一旦有一料盒满了要取出，则须整个抽屉式盒架上128个或256个直立式料盒都移出机台才能就其中之一个料盒进行取出，其机构的设计仅适用于需要多分BIN的物料分选，若使用于例如绕线式电感的检测，由于其分BIN数少，所须用以承接收集的料盒数少，但料盒体积必须大，在此情况下并不适合采用抽屉式盒架上载设多个直立式料盒的方式来进行。

爰是，本发明的目的，在于提供一种可适用于少量分BIN数的物料承接收集装置。

依据本发明目的的物料承接收集装置，包括：一框架，包括：一位于上方呈水平设置的上框座，一位于下方呈水平设置并与上框座平行的下框座，二位于上框座、下框座间呈垂直立设于左右两侧的左框座、右框座，一位于相对操作者位置为后侧之后框座，上框座、下框座、左框座、右框座、后框座等共同围设提供一内部的容置空间，并设有一开放镂空的置入口；多个料盒，设于该框架的容置空间中，每一料盒位于相对操作者位置为前侧的前盒座上各设有一握把；各料盒呈X轴向并列设置于容置空间中，各料盒可经握把由Y轴向朝操作者位置方向抽移出；该框架设有相隔间距列设的极限开关，每一极限开关各对应一料盒；该框架的该下框座下方邻靠该后框座底端处设有一槽框，该槽框以一槽口固设于该下框座底部，使其上方该槽口被该下框座封闭，而形成一X轴向两端开放镂空而截径周围封闭的X轴向中空的槽间；该槽间中设该极限开关，每一该极限开关各固设于该下框座底部，容置空间中的该下框座的上表面位于朝邻近该后框座的一侧，设有相隔间距呈X轴向列设的镂空且与该槽间相通的感测区间，该槽间中的该极限开关以一探触部微凸于该下框座的上表面上方一适当高度，每一该极限开关的该探触部各对应位于一该料盒底部下方。

本发明实施例的物料承接收集装置，由于整体框架、料盒形成一模块化设计，故整体可供移设于进行检测、分选的机台中，且各料盒可直接在框架被固设于机台状态下，仅由框架中抽出欲取用的单一料盒即可；料盒嵌入框架中到达定位可以由极限开关进行检视检测。

【附图说明】

图1是本发明实施例中框架与料盒组合的立体示意图。

图2是本发明实施例中框架构造立体示意图。

图3是本发明实施例中框架中料盒底部的构造部分立体示意图。

图4是本发明实施例中框架内部分构造与料盒的立体分解示意图。

图5是本发明实施例中料盒构造的立体示意图。

图6是本发明实施例中缓冲件与料盒的部分立体分解示意图。