[发明专利]一种大型回转体外形扫描测量装置及方法

权利要求书

1.一种大型回转体外形扫描测量方法，其特征在于以下步骤：

第一步，确定测量坐标系

采用红宝石硬测头分别测量大型回转体支撑轴柱面、大型回转体端面及回转体端面刻线，分别确定大型回转体中心位置、大型回转体轴向位置及大型回转体周向位置，并建立测量坐标系；

第二步，测量过程

2.1)利用数控设备(4)控制大型回转体转动，保证回转体端面刻线水平；扫描机器人(2)带动三维扫描激光测头沿机器人轨道(1)移动，并对回转体外表面进行扫描，得到第一个带状外形数据；

2.2)利用数控设备(4)控制大型回转体转动角度A，再由扫描机器人(2)控制三维扫描激光测头沿机器人轨道(1)扫描，测得大型回转体上第二个带状外形数据；在测量坐标系内，将第二个带状外形数据逆向旋转相应角度A，与第一个带状外形数据进行裁剪、缝合；

2.3)重复步骤2.2)，在测量坐标系内得到整个大型回转体的外形数据；大型回转体外形扫描测量装置包括机器人轨道(1)、扫描机器人(2)、激光跟踪仪(3)、数控设备(4)；所述的激光跟踪仪(3)包括激光发射跟踪器、红宝石硬测头和三维扫描激光测头；

所述的扫描机器人(2)通过移动导轨安装在机器人轨道(1)上，能够沿机器人轨道(1)移动，所述的机器人轨道(1)与回转体中心线平行；所述的激光跟踪仪(3)的三维扫描激光测头和红宝石硬测头均安装在扫描机器人(2)末端执行器上，三维扫描激光测头和红宝石硬测头由扫描机器人(2)控制沿机器人轨道(1)运行，实现对大型回转体的扫描测量；所述的激光发射跟踪仪 (3)与三维扫描激光测头和红宝石硬测头通过激光连接；所述的数控设备(4)上安装回转体，数控设备(4)控制回转体。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述的角度其中，l为三维扫描激光测头扫描宽度，d为回转体直径。