[发明专利]一种逆导型绝缘栅双极晶体管及其制作方法在审
申请号: | 201710024792.X | 申请日: | 2017-01-13 |
公开(公告)号: | CN106611779A | 公开(公告)日: | 2017-05-03 |
发明(设计)人: | 陈万军;陈楚雄;娄伦飞;唐血锋;陶宏;胡官昊;王泽恒;张波 | 申请(专利权)人: | 电子科技大学 |
主分类号: | H01L29/06 | 分类号: | H01L29/06;H01L29/739;H01L21/331 |
代理公司: | 成都点睛专利代理事务所(普通合伙)51232 | 代理人: | 葛启函 |
地址: | 611731 四川省*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 逆导型 绝缘 双极晶体管 及其 制作方法 | ||
1.一种逆导型绝缘栅双极型晶体管,包括元胞区和结终端区;所述元胞区包括第一N型漂移区(6),所述第一N型漂移区(6)的上层具有P型基区(5),所述P型基区(5)的上层具有N型源区(4);所述第一N型漂移区(6)的上表面具有和栅极,所述栅极由栅氧化层(2)和位于栅氧化层(2)上表面的栅电极(1)构成;栅氧化层(2)的下表面还与部分P型基区(5)和部分N型源区(4)的上表面接触,部分P型基区(5)的上表面和部分N型源区(4)的上表面还具有金属化阴极(3);第一N型漂移区(6)的下层具有N型阳极区(7)和P型阳极区(8),所述N型阳极区(7)和P型阳极区(8)并列设置,且P型阳极区(8)位于靠近结终端区一侧;
所述结终端区中包括第二N型漂移区(15),所述第二N型漂移区(15)的上层具有P型等位环(10)和P型场限环(13),所述P型等位环(10)位于靠近元胞区一侧,且P型等位环(10)与相邻的P型基区(5)接触,P型等位环(10)的部分上表面与金属化阴极(3)接触;所述P型等位环(10)的上表面还具有栅极;所述第二N型漂移区(15)的上表面具有场氧化层(12),所述场氧化层(12)的下表面还与部分P型等位环(10)和部分P型场限环(13)的上表面接触,所述场氧化层(12)靠近元胞区的一侧具有金属化场板(11),所述金属化场板(11)的下表面与P型等位环(10)和P型场限环(13)的上表面接触,且金属化场板(11)还延伸至部分场氧化层(12)的上表面;所述第二N型漂移区(15)的下层具有N型阳极区(14),所述N型阳极区(14)与P型阳极区(8)并列设置,所述N型阳极区(7)、P型阳极区(8)和N型阳极区(14)的下表面具有金属化阳极(9)。
2.一种逆导型绝缘栅双极型晶体管的制造方法,其特征在于,包括以下步骤:
第一步:在硅片上生长场氧化层,形成第一N型漂移区(6)、第二N型漂移区(15)和场氧化层(12);其中,第一N型漂移区(6)、第二N型漂移区(15)并列设置,场氧化层(12)位于第一N型漂移区(6)和第二N型漂移区(15)上表面;
第二步:刻蚀部分场氧化层,在第二N型漂移区(15)上层进行离子注入完成结终端的制作,形成P型等位环(10)和P型场限环(13);其中,P型等位环(10)位于靠近第一N型漂移区(6)的一侧
第三步:在第一N型漂移区(6)上表面的一侧通过热氧化形成栅氧化层2,并在栅氧化层(2)上淀积一层多晶硅/金属再刻蚀形成栅电极(3);
第四步:在第一N型漂移区(6)上层注入P型杂质并推结形成P型基区(5);
第五步:在第一N型漂移区(6)上层注入N型杂质形成N型源区(4);所述N型源区(4)位于P型基区(5)中;
第六步:在器件上表面淀积BPSG绝缘介质层,刻蚀欧姆接触孔;
第七步:在P型基区(5)、N型源区(4)、P型等位环(10)以及P型场限环(13)上表面淀积金属,形成阴极金属(1)和金属化场板(11);
第八步:淀积钝化层;
第九步:对第一N型漂移区(6)和第二N型漂移区(15)的下表面进行减薄、抛光处理,采用较高能量注入P型杂质形成P型阳极区(8);
第十步:对第一N型漂移区(6)和第二N型漂移区(15)的下表面的部分区域采用离子注入比第九步中注入的P型杂质更高掺杂浓度的N型杂质形成N型阳极区(7)和N型阳极区(14);所述N型阳极区(7)、N型阳极区(14)和P型阳极区(8)并列设置,且P型阳极区(8)位于N型阳极区(7)和N型阳极区(14)之间;
第十步:在器件下表面进行金属淀积以形成金属化阳极(9)。
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