[发明专利]一种用于中子衍射应力分析的三维定标测量装置有效

专利信息
申请号: 201710017152.6 申请日: 2017-01-11
公开(公告)号: CN106770402B 公开(公告)日: 2023-08-04
发明(设计)人: 张莹;张昌盛;孙光爱;王虹;龚建;李洪佳;庞蓓蓓;张洁 申请(专利权)人: 中国工程物理研究院核物理与化学研究所
主分类号: G01N23/207 分类号: G01N23/207
代理公司: 中国工程物理研究院专利中心 51210 代理人: 翟长明;韩志英
地址: 621999 四*** 国省代码: 四川;51
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摘要:
搜索关键词: 一种 用于 中子 衍射 应力 分析 三维 定标 测量 装置
【权利要求书】:

1.一种用于中子衍射应力分析的三维定标测量装置,其特征在于,所述的三维定标测量装置包括三维扫描仪(1)、样品台(2)、计算机(3)、入射狭缝(4)、衍射狭缝(6)、准直器(7)和中子探测器(8);所述的三维扫描仪(1)包括光栅投影仪(9),摄像机Ⅰ(10)和摄像机Ⅱ(11),光栅投影仪(9)发射光栅束至样品(5),通过摄像机Ⅰ(10)和摄像机Ⅱ(11)的互补测量获得样品(5)的扫描图像;样品(5)放置在所述的样品台(2)上,中子源发射的中子射线经入射狭缝(4)入射至样品(5),衍射后的中子射线沿衍射狭缝(6)入射至准直器(7)后由中子探测器(8)接收,入射狭缝(4)和衍射狭缝(6)呈布拉格角排列;所述的三维扫描仪(1)扫描样品(5),并将扫描图像传输至计算机(3);所述的计算机(3)控制样品台(2)移动,改变三维扫描仪(1)扫描的样品(5)的测量点位置,通过计算机(3)中的中子衍射应力分析模块实现样品(5)的中子衍射应力分析的三维定标测量。

2.根据权利要求1所述的用于中子衍射应力分析的三维定标测量装置,其特征在于:所述的三维扫描仪(1)包括光栅投影仪(9),摄像机Ⅰ(10)和摄像机Ⅱ(11),光栅投影仪(9)发射光栅束至样品(5),通过摄像机Ⅰ(10)和摄像机Ⅱ(11)的互补测量获得样品(5)的扫描图像。

3.根据权利要求1所述的用于中子衍射应力分析的三维定标测量装置,其特征在于:所述的样品台(2)为四自由度运动机构,通过电机带动样品(5)在X、Y、Z方向运动和水平旋转。

4.根据权利要求1或2所述的用于中子衍射应力分析的三维定标测量装置,其特征在于:所述的三维扫描仪(1)与计算机(3)之间的通讯采用光纤通讯、串口通讯或以太网通讯中的一种。

5.根据权利要求1或3所述的用于中子衍射应力分析的三维定标测量装置,其特征在于:所述的样品台(2)与计算机(3)之间的通讯采用串口通讯或以太网通讯中的一种。

6.根据权利要求1所述的用于中子衍射应力分析的三维定标测量装置,其特征在于:所述的入射狭缝(4)和衍射狭缝(6)窗口尺寸范围为0mm×0mm至20mm×100mm的矩形窗口。

7.根据权利要求1所述的用于中子衍射应力分析的三维定标测量装置,其特征在于:所述的准直器(7)为径向准直器或Soller准直器中的一种。

8.根据权利要求1所述的用于中子衍射应力分析的三维定标测量装置,其特征在于:所述的中子探测器(8)的结构为多丝正比室结构或3He管组成的探测器阵列结构中的一种。

9.根据权利要求1所述的用于中子衍射应力分析的三维定标测量装置,其特征在于:所述的中子源为反应堆中子源、脉冲堆中子源或散裂中子源中的一种。

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