[发明专利]一种蓝牙集成电路测试系统和测试方法有效
申请号: | 201710016097.9 | 申请日: | 2017-01-10 |
公开(公告)号: | CN106841980B | 公开(公告)日: | 2020-10-23 |
发明(设计)人: | 廖毅;张涌 | 申请(专利权)人: | 芯原微电子(上海)股份有限公司;芯原微电子(成都)有限公司;芯原微电子(北京)有限公司;芯原控股有限公司 |
主分类号: | G01R31/28 | 分类号: | G01R31/28 |
代理公司: | 上海光华专利事务所(普通合伙) 31219 | 代理人: | 余明伟 |
地址: | 201203 上海市浦东新区中国(*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 蓝牙 集成电路 测试 系统 方法 | ||
1.一种蓝牙集成电路测试系统,其特征在于,包括:
自动测试模块、无线电测试模块和射频探针卡;
所述自动测试模块与所述无线电测试模块连接,控制所述无线电测试模块调制并发射符合预设要求的蓝牙调制波,或接收所述无线电测试模块检测到的射频载波的中心频率及发射功率;
所述无线电测试模块与所述射频探针卡连接,通过所述射频探针卡向待测蓝牙集成电路发射十六进制AA的蓝牙调制波,或通过所述射频探针卡接收待测蓝牙集成电路发射的射频载波,并检测所述射频载波的中心频率及发射功率;
所述射频探针卡与待测蓝牙集成电路连接;
所述自动测试模块与所述射频探针卡连接,通过所述射频探针卡与待测蓝牙集成电路通信,控制待测蓝牙集成电路接收蓝牙调制波并解调成为基带信号,并接收所述基带信号,或者控制待测蓝牙集成电路根据预设的中心频率和发射功率发射射频载波;
所述自动测试模块利用其时间测试单元对接收到的基带信号进行频率测试并判断待测蓝牙集成电路的接收性能是否满足要求,或者根据接收到的射频载波的中心频率及发射功率判断待测蓝牙集成电路的发射性能是否满足要求;
其中所述自动测试模块采用具备DC测试、DFT测试、控制和结果判断能力但不具备射频信号测试能力的经济型自动测试设备,所述经济型自动测试设备包括:可编程直流电源、直流测试模块、数字通道及模拟测试通道,所述可编程直流电源与所述射频探针卡连接,所述自动测试模块利用所述可编程直流电源经由所述射频探针卡对待测蓝牙集成电路进行上电;所述直流测试模块对待测蓝牙集成电路进行DC测试;所述数字通道与所述射频探针卡连接,所述自动测试模块利用所述数字通道通过所述射频探针卡来对蓝牙集成电路的数字部分进行DFT测试。
2.根据权利要求1所述的蓝牙集成电路测试系统,其特征在于:所述自动测试模块采用SPI通信协议与待测蓝牙集成电路通信。
3.根据权利要求1所述的蓝牙集成电路测试系统,其特征在于:所述自动测试模块利用所述数字通道通过所述射频探针卡采用SPI通信协议与待测蓝牙集成电路通信。
4.根据权利要求1所述的蓝牙集成电路测试系统,其特征在于:所述自动测试模块通过GPIB电缆或者网线与所述无线电测试模块连接。
5.根据权利要求1所述的蓝牙集成电路测试系统,其特征在于:所述自动测试模块通过调用API函数控制所述无线电测试模块。
6.根据权利要求1所述的蓝牙集成电路测试系统,其特征在于:所述射频探针卡包括布设在印刷电路板上的射频信号线和与所述射频信号线连接的接触针,所述射频信号线与所述无线电测试模块连接,所述接触针与待测蓝牙集成电路的端口接触。
7.根据权利要求6所述的蓝牙集成电路测试系统,其特征在于:所述射频信号线呈直线排布,所述接触针与所述射频信号线位于同一直线上。
8.根据权利要求6所述的蓝牙集成电路测试系统,其特征在于:所述射频信号线周围设有隔离层,所述隔离层通过过孔与地短路。
9.根据权利要求1所述的蓝牙集成电路测试系统,其特征在于:所述射频探针卡通过射频电缆与所述无线电测试模块连接。
10.根据权利要求1所述的蓝牙集成电路测试系统,其特征在于:所述射频探针卡设有多个接触针及与所述多个接触针对应连接的多路射频信号线。
11.根据权利要求10所述的蓝牙集成电路测试系统,其特征在于:所述多路射频信号线的几何形状保持一致。
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