[发明专利]一种高精度透镜中心偏检测仪器及其测量方法

说明书

本发明公开了一种高精度透镜中心偏检测仪器，包括设置在基座上的LED照射源发射系统、显微镜系统和被测玻璃承座，所述LED照射源发射系统和被测玻璃承座位于同一平面，显微镜系统位于被测玻璃承座的上方，信号发射系统中的光源发出的光线通过十字叉丝通过聚光镜聚光后，由反射棱镜转向来到被测玻璃，经过显微镜系统放大成像在十字分划板，最后通过电子目镜成像在CCD并在监视器上显示。本发明所述的透镜中心检测系统的有益效果：可以实现对焦距特别小或特别大的被测透镜中心偏的测量，以及避免十字叉丝过粗影响读数，同时不改变灵敏度。根据转动一周时十字叉丝像的位移量，进而实现中心偏差的测量。

技术领域

本发明涉及光学检验测量技术领域领域，特别涉及一种高精度透镜中心偏检测仪器及其测量方法。

背景技术

光学技术生产过程中往往会存在一个关键问题：在透镜的加工生产环节、透镜的装配过程中会产生中心偏差，即透镜的光学中心（光轴）与几何中心（几何轴线）没有重合，而是存在偏差。换句话说，就是光束光轴和透镜参考轴不一致，各自在不同的方向和位置时，中心偏差就会出现。

为了减小镜头生产装配过程中的中心偏差，保证光学镜头各光学面的共轴性，需要设计和制造高精度的光学定位仪。

与本发明最接近的已有技术是中心偏检测装置及检测方法，申请号为CN20131041023.7，该发明在检测焦距特别小或特别大透镜时，十字叉丝成像太粗，影响读数，增加误差，影响精度。

发明内容

本发明所要解决的技术问题是提供一种高精度透镜中心偏检测仪器及其测量方法，该方法在检测不同焦距（包括焦距特别小或特别大的透镜）的被测透镜的光学中心与几何中心的偏差，使精度得到提升。当十字叉丝成像于CCD上时，可能会出现十字叉丝很粗而影响读数的情况，本技术提供一种高精度检测被测透镜的光学中心与几何中心偏差的光学系统，使十字叉丝成像较为清晰且容易判读的图像信号，且不影响精度，更利于操作者进行判读，现有技术中导致的上述多项缺陷。

为实现上述目的，本发明提供以下的技术方案：一种高精度透镜中心偏检测仪器，包括设置在基座上的LED照射源发射系统、显微镜系统和被测玻璃承座，所述LED照射源发射系统和被测玻璃承座位于同一平面，显微镜系统位于被测玻璃承座的上方；

LED照射源发射系统包括LED照射源和聚光镜，LED照射源的出光口设有十字叉丝；

显微镜系统包括显微镜镜筒本体，显微镜镜筒内部设有刻度分划板，显微镜镜筒的显微目镜处为电子目镜，电子目镜通过CCD连接外部黑白监视器；

被测玻璃承座内部设有反射棱镜，被测玻璃相对于被测玻璃承座转动。

优选的，所述显微镜镜筒内部在刻度分划板和显微物镜之间设有一个分光板，显微镜镜筒上设有正对着分光板的LED光源。

优选的，所述基座上设有立柱，立柱上设有相对于立柱滑动的支架，该显微镜镜筒固定在支架上，支架上设有控制支架滑动的第一微动手轮。

优选的，所述聚光镜设置在导轨内，导轨外侧设有控制聚光镜移动的第二微动手轮。

优选的，所述被测玻璃承座相对于基座移动，被测玻璃承座的外侧设有控制被测玻璃承座移动的第三微动手轮。

一种高精度透镜中心偏检测仪器的测量方法，步骤包括：将被测透镜安装于所述转台上，然后粗调仪器，使得被测透镜和显微镜系统基本位于同一光轴上，然后打开LED照射源开关，调整显微镜系统，所述LED照射源发出的光束依次经过所述十字叉丝、聚光镜后变为平行光束，由所述反射棱镜反射进入所述被测透镜并成像于被测透镜与所述显微物镜的焦点重合处，所述像依次经过所述分光板、刻度分划板和电子目镜成像于CCD上，调整该透镜中心仪，直至分划板在CCD中清晰成像，观察黑白监视器中分划板与十字叉丝像位置关系，然后转动被测透镜，读出偏移格值；