[发明专利]一种热成像镜头轴外响应的检测装置及检测方法

说明书

本发明公开了一种热成像镜头轴外响应的检测装置及检测方法，属于光学镜头技术领域；装置包括按序排列的红外光源、透光通孔、准直扩束镜、标准衰减片、红外探测器以及控制装置；方法包括将各部件调整为中心同高且同轴；将热成像镜头和红外探测器之间调整至并计为第一能量值；去除标准衰减片；将红外探测器旋转至一预设位置，以使透光通孔在红外探测器上形成的像移出至红外探测器的边缘；测量得到红外探测器内数值最高的能量并计为第二能量值；处理得到热成像镜头的轴外响应值。上述技术方案的有益效果是：实现热成像镜头的轴外响应测试，提高轴外响应的测量精度，并且测量装置搭建简单、测量速度较快。

技术领域

本发明涉及光学镜头技术领域，尤其涉及一种热成像镜头轴外响应的检测装置及检测方法。

背景技术

随着非制冷探测器技术的成熟，长波红外非制冷光学系统得到越来越广泛的应用。一般的热成像镜头的成像质量除了由调制传递函数(Modulation Transfer Function，MTF)等设计指标决定之外，还有一项重要的决定因素就是杂光辐射。

所谓杂光辐射，是指在光学系统中，除了目标光线外，扩散于探测器表面的其他非目标光线能量以及经过非正常光路到达探测器的目标光线能量。杂光辐射会导致像面上的辐照度不均匀，像面上的物体和背景的对比度和信噪比降低，从而造成热成像系统的灵敏度下降。而轴外响应是杂光辐射中的一种，其主要指目标光线之外经过非正常光路到达探测器的目标光线能量。

在可见光领域，镜头的轴外响应的检测手段和抑制方法较多也较为成熟。但是在热成像镜头的轴外响应的检测方面却缺乏成熟的检测方法和检测装置。

发明内容

根据现有技术中存在的上述问题，现提供一种热成像镜头轴外响应的检测装置及检测方法的技术方案，旨在实现热成像镜头的轴外响应测试，提高轴外响应的测量精度。

上述技术方案具体包括：

一种热成像镜头轴外响应的检测装置，其中，包括按序排列的红外光源、透光通孔、准直扩束镜、标准衰减片、红外探测器以及控制装置；

所述准直扩束镜设置在一第一调整架上；

所述红外探测器固定设置在一第二调整架上，所述第二调整架固定设置在一位置控制器上；

所述控制装置分别连接所述红外探测器和所述位置控制器；

所述控制装置用于控制所述红外探测器成像，并将所述红外探测器的成像图像显示在所述控制装置的显示屏上；以及

所述控制装置还用于控制所述位置控制器的旋转位置，从而通过所述位置控制器和所述第二调整架控制所述红外探测器的旋转位置；

所述检测装置具有一可调整的第一工作状态，于所述第一工作状态下：

将所述热成像镜头设置在所述标准衰减片与所述红外探测器之间，并将所述热成像镜头与所述红外探测器连接；

所述红外光源、所述透光通孔、所述准直扩束镜、所述标准衰减片、所述热成像镜头和所述红外探测器的中心同高且同轴；

所述热成像镜头和所述红外探测器之间成一相对位置，以使所述红外探测器对所述透光通孔成清晰像；

于所述第一工作状态下，所述控制装置还用于测量所述透光通孔的中心位置的能量，并计为第一能量值；

所述检测装置还具有一可调整的第二工作状态，于所述第二工作状态下：

将所述热成像镜头设置在所述标准衰减片与所述红外探测器之间，并将所述热成像镜头与所述红外探测器连接；

所述红外光源、所述透光通孔、所述准直扩束镜、所述热成像镜头和所述红外探测器的中心同高且同轴，所述标准衰减片被移去；