[发明专利]计算方法、判定方法、挑选方法以及挑选装置

说明书

本发明提供一种计算方法、判定方法、挑选方法以及挑选装置。用于判定构成被检查物的材料的种类的判定方法包括以下步骤：向被检查物照射X射线，检测透过了被检查物的低能量X射线的透过强度和透过了被检查物的高能量X射线的透过强度；关于被检查物，计算对低能量X射线的透过强度和高能量X射线的透过强度进行加权差分得到的差分值与使用于该加权差分的权重系数的关系；以及基于与材料的种类已知且互不相同的多个参照物体分别对应的多个关系以及对应于被检查物的关系，判定构成被检查物的材料的种类。

技术领域

本公开涉及一种计算方法、判定方法、挑选方法以及挑选装置，特别是涉及一种用于判定构成被检查物的材料的种类的计算方法、使用该计算方法的判定方法、用于挑选被检查物的挑选方法以及挑选装置。

背景技术

以往，在食品行业和药品行业等各种行业中进行使用透过X射线的异物检查。该检查中，向物体照射X射线并根据透过了该物体的X射线的透过强度(吸收的大小)的差异来进行异物的检测。X射线的透过强度依赖于物体的材质、厚度、密度、构成物体的元素的种类以及元素的浓度等。

在此，在元素浓度、厚度以及密度的差异对X射线透过强度的影响小于元素的种类对X射线透过强度的影响的情况下，通过参照X射线透过强度来能够确定含有作为对象的元素的物体。但是，在前者的影响大于后者的影响的情况下，难以确定包含作为对象的元素的物体。

因此，作为考虑了物体的厚度的材质的判定方法，已知被称为能量减影(energysubtraction)法的方法。该方法是如下方法：分别测定2种不同能量(低能量和高能量)的X射线的透过强度，对它们进行对数变换之后使用参数来进行加权差分处理，由此分离异成分图像。然而，在该方法中，存在适当地设定参数的作业微妙且繁琐的情况，因此例如提出了如下技术。

日本特开2010-91483号公报公开了如下方法：对从双能量X射线图像生成的低能量和高能量的等价厚图像对应用独立成分分析来求出分离矩阵，使用作为分离矩阵的要素的2个分离矢量来设定差分处理的权重参数。

在专利文献1中，对等价厚图像对应用独立成分分析来求出分离矩阵，但是无法基于2个透过X射线图像来区分3种以上的物质。即，能够判定的构成被检查物的物质(材料)的种类被限制到2个为止。因此，存在如下问题：在多个被检查物中有可能含有3种以上的被检查物的情况下，无法高精度地判定构成该被检查物的材料的种类。

发明内容

本公开是为了解决上述问题而完成的，某方面的目的在于提供一种用于即使在多个被检查物中含有3种以上的被检查物的情况下也高精度地判定构成被检查物的材料的种类的计算方法、使用该计算方法的判定方法。另外，其它方面的目的在于提供一种即使在多个被检查物中含有3种以上的被检查物的情况下也能够高精度地挑选由特定种类的材料构成的被检查物的挑选方法以及挑选装置。

按照某实施方式，提供一种用于判定构成被检查物的材料的种类的计算方法。计算方法包括以下步骤：向被检查物照射X射线，检测透过了被检查物的低能量X射线的透过强度和透过了被检查物的高能量X射线的透过强度；以及关于被检查物，计算对低能量X射线的透过强度和高能量X射线的透过强度进行加权差分得到的差分值与使用于该加权差分的权重系数的关系。

按照其它实施方式，提供一种使用上述计算方法的判定方法。判定方法包括以下步骤：基于对应于被检查物的关系、以及与材料的种类已知且互不相同的多个参照物体分别对应的、对低能量X射线的透过强度和高能量X射线的透过强度进行加权差分得到的差分值与使用于该加权差分的权重系数的关系，判定构成被检查物的材料的种类。