[发明专利]GIP信号测试电路、GIP信号测试方法和显示装置

权利要求书

1.一种GIP信号测试电路，其特征在于，包括：一信号测试线、一时钟信号线、一个第一晶体管、多个第二晶体管、多个第三晶体管、多个电容以及多级GIP信号；所述第二晶体管、第三晶体管、电容以及GIP信号一一对应；所述第一晶体管的第一电极连接至所述时钟信号线，所述第一晶体管的第二电极连接至所述信号测试线，所述第一晶体管的栅极连接至所述信号测试线；所述信号测试线通过多个第二晶体管、多个第三晶体管以及多个电容分别接收多级GIP信号，并根据所述多级GIP信号输出测试信号；所述第二晶体管的第一电极连接至所述信号测试线，所述第二晶体管的第二电极连接相对应的所述GIP信号；所述第二晶体管的栅极连接至相对应的第三晶体管的第二电极，所述第三晶体管的第一电极连接至所述时钟信号线，所述第三晶体管的第二电极与栅极均连接至相对应的所述电容的一端，所述电容的另一端连接至相对应的所述GIP信号。

2.如权利要求1所述的GIP信号测试电路，其特征在于，所述第一电极为源极，所述第二电极为漏极；或者，所述第一电极为漏极，所述第二电极为源极；所述第一晶体管至第三晶体管均为薄膜场效应晶体管。

3.一种采用如权利要求1或2所述的GIP信号测试电路进行GIP信号测试的方法，其特征在于，包括：

向所述GIP信号测试电路提供时钟信号和多级GIP信号；以及

通过所述GIP信号测试电路输出多级GIP信号的测试信号；

其中，测试周期包括五个阶段：

在第一时间段，所述时钟信号与某一级GIP信号均为高电位，所述第一晶体管、第三晶体管打开，所述第二晶体管关闭，所述测试信号为高电位；

在第二时间段，所述GIP信号为高电位，所述时钟信号为低电位，所述第一晶体管、第二晶体以及第三晶体管均关闭，所述测试信号维持高电位；

在第三时间段，所述GIP信号为低电位，所述时钟信号为低电位，所述第一晶体管与第三晶体管关闭，所述第二晶体管打开，所述测试信号为低电位；

在第四时间段，所述GIP信号为高电位，所述时钟信号为低电位，所述第一晶体管、第二晶体以及第三晶体管均关闭，所述测试信号为低电位；

在第五时间段，所述GIP信号为高电位，所述时钟信号为高电位，所述第一晶体管与第三晶体管打开，所述第二晶体管关闭，所述测试信号为高电位。

4.如权利要求3所述的GIP信号测试方法，其特征在于，每一级GIP信号的下降沿较所述时钟信号的下降沿延迟，每一级GIP信号的上升沿较所述时钟信号的上升沿提前。

5.如权利要求4所述的GIP信号测试方法，其特征在于，所述测试信号的每个低电位对应一级GIP信号。

6.一种显示装置，其特征在于，包括：GIP电路、多条扫描线以及如权利要求1或2所述的GIP信号测试电路；

所述GIP电路通过所述多条扫描线与所述GIP信号测试电路连接，用于向所述GIP信号测试电路提供多级GIP信号，所述GIP信号测试电路根据所述多级GIP信号输出测试信号。