[发明专利]一种PCIE标准子卡形态的频谱分析仪在审
| 申请号： | 201710001513.8 | 申请日： | 2017-01-03 |
| 公开（公告）号： | CN106771596A | 公开（公告）日： | 2017-05-31 |
| 发明（设计）人： | 张超;邹洋;余廷军 | 申请（专利权）人： | 成都玖锦科技有限公司 |
| 主分类号： | G01R23/165 | 分类号： | G01R23/165 |
| 代理公司： | 成都坤伦厚朴专利代理事务所(普通合伙)51247 | 代理人： | 刘坤 |
| 地址： | 610000 四川省成都市*** | 国省代码： | 四川;51 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 pcie 标准 形态 频谱 分析 | ||
【权利要求书】：
1.一种PCIE标准子卡形态的频谱分析仪，其特征在于：所述的频谱分析仪包括依次顺序连接的、安装在同一块基板上的射频前端模块(1)、基带处理模块(2)、数字信号处理模块(3)、高速通信模块(4)，所述高速通信模块(4)采用PCIE总线与上位机相连；所述的上位机内设置频谱分析模块(5)；所述基带处理模块(2)采用AD9364射频收发器进行基带处理；所述PCIE总线与上位机之间的接口选用标准PCIE通信金手指(6)。
2.根据权利要求1所述一种PCIE标准子卡形态的频谱分析仪，其特征在于：所述的频谱分析仪还包括安装在基板上的信号输入接口(7)、参考时钟输入接口(8)、参考时钟输出接口(9)；所述的信号输入接口(7)、参考时钟输入接口(8)、参考时钟输出接口(9)分别与射频前端模块(1)的输入端连接。
3.根据权利要求2所述一种PCIE标准子卡形态的频谱分析仪，其特征在于：所述信号输入接口(7)为SMA接口或N接口。
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