[发明专利]一种精密测量多功能实验台在审
申请号: | 201710000591.6 | 申请日: | 2017-01-03 |
公开(公告)号: | CN107063148A | 公开(公告)日: | 2017-08-18 |
发明(设计)人: | 查卿 | 申请(专利权)人: | 中国科学院苏州生物医学工程技术研究所 |
主分类号: | G01B21/00 | 分类号: | G01B21/00;G01N21/84 |
代理公司: | 南京经纬专利商标代理有限公司32200 | 代理人: | 曹毅 |
地址: | 215000 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 精密 测量 多功能 实验 | ||
技术领域
本发明涉及一种实验平台,具体涉及一种精密测量多功能实验台。
背景技术
在实验室精密测量中,三坐标测量机显得大材小用,浪费资金,大型气浮平台又没有相关移动部件,所以需要一套结构简单、操作方便、方便装拆的能够灵活应用与多种场合的小型多功能实验台,既能够满足零部件的检测、试验和装调,又进行机械或者光学,接触式或者非接触式的各种检测。例如用百分表或千分表来检测零件的形位精度;用电容位移传感器或电感传感器来测量机构运动的精度;在零部件装调过程中,检测部件装配的配合精度等。本发明的精密测量多功能实验台采用上述模块结构,其结构简单,易操作,方便装拆,既可以作为零部件检测的操作台,也可以作为机构试验的实验台,又可以作为小型机器的装调平台。
发明内容
本发明的目的在于克服现有技术存在的问题,提供一种精密测量多功能实验台。
为实现上述技术目的,达到上述技术效果,本发明通过以下技术方案实现:
一种精密测量多功能实验台,该实验台包括刮研平板,所述刮研平板上设有相互垂直的两个研磨导轨,所述研磨导轨上滑动地设有导轨滑块,所述导轨滑块上吸附有磁性表座,所述磁性表座上设有表头,所述刮研平板正面设有均布的阵列孔,刮研平板背面设有调平地脚。
进一步的,所述刮研平板为双零级筋式刮研平台。
进一步的,所述表头为千分表、百分表外或传感器探头,用于测量和微调。
进一步的,所述阵列孔对刮研平板正面划分形成零部件安装区域、驱动装置安装区域、测量装置安装区域和定位装置安装区域。
进一步的,所述调平地脚为锥底螺杆调平地脚。
本发明的有益效果是:
本发明多功能实验台在柔性铰链检测、精密光学狭缝实验、试管喷码系统实验及计量泵和蠕动泵装调测试中都能取得良好的效果,并且可以进一步扩展功能,将滑动台改成电动直线运动单元,可以进行更快速和准确的调整;配合CCD或显微镜可以进行零部件表面检测等,因此该实验平台在科研和工程中,用途非常广泛。
附图说明
图1是本发明的俯视图;
图2是本发明的侧视图。
图中标号说明:1、研磨导轨,2、导轨滑块,3、磁性表座,4、刮研平板,5、阵列孔,6、表头,7、调平地脚。
具体实施方式
下面将参考附图并结合实施例,来详细说明本发明。
参照图1和图2所示,一种精密测量多功能实验台,该实验台包括刮研平板4,所述刮研平板4上设有相互垂直的两个研磨导轨1,所述研磨导轨1上滑动地设有导轨滑块2,所述导轨滑块2上吸附有磁性表座3,所述磁性表座3上设有表头6,所述刮研平板4正面设有均布的阵列孔5,刮研平板4背面设有调平地脚7。
所述刮研平板4为双零级筋式刮研平台。
所述表头6为千分表、百分表外或传感器探头,用于测量和微调。
所述阵列孔5对刮研平板4正面划分形成零部件安装区域、驱动装置安装区域、测量装置安装区域和定位装置安装区域。
所述调平地脚7为锥底螺杆调平地脚。
本发明安装时,先将调平地脚7放置在基面上,将刮研平板4放在调平地脚7上,用水平仪调整刮研平板4的各个位置的水平度;再将一根研磨导轨1及相应的导轨滑块2组合安装在刮研平板4一边,采用螺钉紧固,以该研磨导轨1为基准,安装对应的直角尺,在导轨滑块2上吸附上磁性表座3,在磁性表座3上装上表头6,表头6打在直角尺边上,使直角尺的一边与预先安装好的研磨导轨1尽量平行;然后以直角尺的另一边为基准,安装第二根研磨导轨1并使其与第一根研磨导轨1相垂直,即采用同样的方法,使第二根根研磨导轨1与直角尺的另一边尽量平行;最后调整好后,移除直角尺;使用前用无腐蚀性汽油,将刮研平板4工作面的防锈油洗净,并用脱脂棉纱擦拭干净;将零部件安装在刮研平板4上面相应的检测区,将传感器安装在磁性表座3上,即可进行装调检测试验等;用完后擦净,涂无水酸性的防锈油,覆盖防潮纸,置于清洁干燥处存放。
以上所述仅为本发明的优选实施例而已,并不用于限制本发明,对于本领域的技术人员来说,本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
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