[发明专利]安装装置及安装方法

说明书

安装装置(11)执行第一模式，在该第一模式下，至少在托盘部件(24)初次向拾取位置移动时拍摄基准标记(27)，基于拍摄到的图像的基准标记(27)的位置来求出校正元件(P)的拾取位置的校正值。另外，安装装置(11)执行第二模式，在该第二模式下，在托盘部件(24)向拾取位置移动时拍摄基准标记(27)，基于拍摄到的图像的基准标记(27)的位置以比第一模式高的频率来求出校正元件(P)的拾取位置的校正值。

技术领域

本发明涉及安装装置及安装方法。

背景技术

以往，作为安装装置，例如，提出有如下结构：读取形成于元件供给托板上的基准标记，计算其固定位置误差(例如，参照专利文献1)。在该装置中，能够校正元件保持部与元件接收部的位置偏差，提高接收精度。另外，作为安装装置，例如，提出有如下结构：在托板设置定位孔及标记，通过识别标记来校正吸附位置，使来自托板的元件的吸附稳定(例如，参照专利文献2)。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本特开平6-216576号公报

专利文献2：日本特开平10-335889号公报

发明内容

发明所要解决的课题

然而，在该专利文献1、2所记载的安装装置中，使用基准标记来使元件的拾取稳定，但是并未考虑例如更高精度地进行元件的拾取、或者更高效地进行元件的拾取。

本发明就是鉴于这样的课题而作成的，其主要目的在于提供能够更高精度地进行元件的拾取、或者更高效地进行元件的拾取的安装装置及安装方法。

用于解决课题的技术方案

本发明为了实现上述主要目的，采用了以下的手段。

即，本发明的安装装置是拾取元件而进行安装处理的安装装置，所述安装装置具备：托盘部件，在多个位置具有基准标记，收容元件并在收容位置与拾取位置之间移动；拍摄部，拍摄所述基准标记；及控制部，执行第一模式和第二模式中的任一模式；在该第一模式下，至少在所述托盘部件初次向所述拾取位置移动时拍摄所述基准标记，基于拍摄到的图像的所述基准标记的位置来求出校正所述元件的拾取位置的校正值，在该第二模式下，在所述托盘部件向拾取位置移动时拍摄所述基准标记，基于拍摄到的图像的所述基准标记的位置以比所述第一模式高的频率来求出校正所述元件的拾取位置的校正值。

在该装置中，使用托盘部件所具有的基准标记，进行当托盘部件初次移动时求出校正元件的拾取位置的校正值的第一模式，另一方面，进行当托盘部件反复移动时以更高的频率求出校正元件的拾取位置的校正值的第二模式。在该装置中，能够通过执行第二模式而更高精度地进行元件的拾取、或者能够通过执行第一模式而更高效地进行元件的拾取。在此，“托盘部件”也包括在确保了托盘主体的其它位置精度的状态下与托盘连接的连接部件，基准标记也可以配设于连接部件。

本发明的安装装置是拾取元件而进行安装处理的安装装置，所述安装装置具备：托盘部件，在多个位置具有基准标记，收容元件并在收容位置与拾取位置之间移动；拍摄部，拍摄所述基准标记；及控制部，执行第一校正处理和第二校正处理中的任一校正处理，在该第一校正处理中，拍摄所述托盘部件的两处所述基准标记，基于拍摄到的图像的所述基准标记的位置来求出校正所述托盘部件的位置和倾斜的校正值，在该第二校正处理中，拍摄所述托盘部件的三处以上所述基准标记，基于拍摄到的图像的所述基准标记的位置来求出校正所述托盘部件的位置、倾斜及变形的校正值。

在该装置中，进行使用两处基准标记来求出校正托盘部件的位置和倾斜的校正值的第一校正处理，另一方面，进行使用三处以上基准标记来求出校正托盘部件的位置、倾斜及变形的校正值的第二校正处理。在该装置中，能够通过进行第一校正处理而更高效地进行元件的拾取，另一方面，能够通过进行第二校正处理而更高精度地进行元件的拾取。

附图说明