[发明专利]片材馈送设备有效
| 申请号: | 201680083781.2 | 申请日: | 2016-04-27 |
| 公开(公告)号: | CN108883645B | 公开(公告)日: | 2023-02-17 |
| 发明(设计)人: | 约翰·S·丹格勒维克兹;巴楚·K·文卡泰什;伊凡·翁格;韦·L·泰奥 | 申请(专利权)人: | 惠普发展公司;有限责任合伙企业 |
| 主分类号: | B41J11/42 | 分类号: | B41J11/42;B41J11/22;B41J29/393 |
| 代理公司: | 北京德琦知识产权代理有限公司 11018 | 代理人: | 周艳玲;王琦 |
| 地址: | 美国德*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 馈送 设备 | ||
1.一种片材馈送设备,包括:
介质托盘,包括具有前部和后部的主表面;和
可操作地联接到所述介质托盘的传感器组件,所述传感器组件包括检测器,所述检测器与所述介质托盘间隔开,并能在所述前部和所述后部之间横向跨越所述主表面相对于所述介质托盘移动,
其中所述传感器组件包括附接到所述介质托盘的反射部分。
2.根据权利要求1所述的片材馈送设备,其中所述反射部分包括多个镜面反射或逆向反射元件。
3.根据权利要求1所述的片材馈送设备,其中所述传感器组件包括机械联接到所述检测器的发射器。
4.根据权利要求1所述的片材馈送设备,包括底架,其中,所述介质托盘被机动化以相对于所述底架移动。
5.根据权利要求4所述的片材馈送设备,其中所述检测器相对于所述底架固定。
6.根据权利要求1所述的片材馈送设备,其中所述传感器组件包括与所述介质托盘中的介质堆形成对比的漫反射元件。
7.一种检测片材馈送设备中的介质堆的介质属性的方法,所述方法包括:
将反射元件设置在介质托盘中所述介质堆的第一侧,所述介质托盘具有包括前部和后部的主表面;
使传感器组件在与所述介质堆的所述第一侧相反的第二侧沿所述反射元件在所述前部和所述后部之间在横向路径上通过;以及
检测在所述传感器组件的横向路径上被所述介质堆遮蔽的所述反射元件的数量。
8.根据权利要求7所述的方法,包括基于所述横向路径上被所述介质堆遮蔽的所述反射元件的数量来计算所述介质堆的尺寸。
9.根据权利要求7所述的方法,其中使所述传感器组件通过,包括用所述传感器组件接收一定量的反射光。
10.根据权利要求9所述的方法,包括测量沿所述横向路径的多个位置处的反射光的量。
11.根据权利要求7所述的方法,其中使所述传感器组件通过,包括用所述传感器组件发射光。
12.一种检测介质堆的介质属性的方法,该方法包括:
将反射元件设置在所述介质堆的第一侧;
使发射光在与所述介质堆的所述第一侧相反的第二侧在所述介质堆的前缘和后缘之间沿主表面的横向路径相对于介质托盘移动;以及
在沿所述横向路径的多个位置处测量来自所述发射光的反射光的量,以确定所述主表面的尺寸。
13.根据权利要求12所述的方法,包括根据反射光的量确定介质类型。
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