[发明专利]具有光采样的光学检测系统

权利要求书

1.一种用于光学检测的系统，包括：

光源，该光源配置为产生光束；

光学元件，该光学元件包括具有轴和尖部的光导，所述尖部从所述轴逐渐变细以形成所述光导的倾斜端，所述光学元件提供与所述尖部相对的窗口，其中所述光学元件延伸进所述光束中，使得所述尖部和至少一部分所述轴位于所述光束内且所述窗口位于所述光束外，并且其中将入射到所述尖部的所述光束的光纵向地传输穿过所述光导并射出所述窗口，而将入射到所述轴上的所述光束的光横向地传输穿过所述轴并留在所述轴的下游的所述光束中；以及

检测器，该检测器配置为检测从所述窗口接收到的光并创建代表所检测到的光的信号，

其中所述光学元件包括支撑所述光导并提供所述窗口的基座，其中所述基座与所述光导一体形成，其中所述基座比所述轴更宽，并且其中所述窗口是所述基座的表面区域。

2.如权利要求1所述的系统，其中，所述尖部具有上游侧和下游侧，所述光束中的光从所述上游侧行进至所述下游侧，并且其中所述上游面形成所述光导的所述倾斜端且相对于与所述光导的长轴正交的平面是倾斜的。

3.如权利要求2所述的系统，其中，所述尖部的所述下游侧相对于所述平面成40-50度倾斜。

4.如权利要求2所述的系统，其中，所述尖部的所述上游侧与所述轴的壁区共面且连续。

5.如权利要求1所述的系统，其中，位于所述光束中的一部分所述轴具有矩形截面。

6.如权利要求1所述的系统，其中，所述尖部具有矩形截面。

7.如权利要求1所述的系统，其中，位于所述光束内的一部分所述轴具有一对取向为平行于所述光束的相对的壁区以及另一对取向为垂直于所述光束的相对的壁区。

8.如权利要求1所述的系统，其中，位于所述光束内的所述一部分所述轴是线性的。

9.如权利要求8所述的系统，其中，所述轴的整个长度是线性的。

10.如权利要求1所述的系统，其中，所述轴具有正好四侧，每一侧从所述尖部延伸至所述轴的相反端。

11.如权利要求10所述的系统，其中，所述轴的每一侧面是平坦的。

12.如权利要求1所述的系统，其中所述窗口是所述基座的凹陷表面区域。

13.如权利要求1所述的系统，其中，所述光学元件经由所述基座安装在所述系统中。

14.如权利要求1所述的系统，其中，所述光学元件是由聚合物形成的。

15.如权利要求14所述的系统，其中，所述轴限定长轴，并且其中所述长轴正交于所述光束。

16.如权利要求1所述的系统，其中，所述光学元件是单片的。

17.如权利要求1所述的系统，其中，所述尖部和所述一部分所述轴位于所述光束的经准直的区域中。

18.如权利要求1所述的系统，进一步包括处理器，该处理器配置为在反馈环路中控制所述光束的强度。

19.如权利要求1所述的系统，其中，与所述倾斜端相对的所述光学元件的一端粘合至所述检测器。

20.如权利要求19所述的系统，其中，与所述倾斜端相对的所述光学元件的所述一端粘合至所述检测器。