[发明专利]用于分析位于产品室中的待分析物品的设备

权利要求书

1.一种用于分析位于产品室(10)中的待分析物品的设备(1)，包括：

-设置在探针壳体(2)中的具有周壁(31)的探针主体(3)，

-至少一个射线源(4)和至少一个光学接收器(5)，

-探针主体(3)中的至少一个测量窗口(6)，所述测量窗口具有用于测量射线的入口区域(61)和出口区域(62)，

-评估单元(7)，

-探针主体(3)的测量位置，在所述测量位置处测量窗口(6)所在的探针主体(3)的至少一部分穿过探针壳体(2)的开口(21)插入到产品室(10)中以便进行分析，和

-探针主体(3)的缩回位置，在所述缩回位置处探针主体(3)至少还部分地位于探针壳体(2)的开口(21)的区域中并且与此同时覆盖开口(21)，

其特征在于

-至少一个测量窗口是ATR元件(6)，和

-ATR元件(6)布置在束路径中的探针主体(3)的周壁(31)的至少一个子区域中。

2.根据权利要求1所述的设备(1)，其特征在于，所述ATR元件(6)设计为空心圆柱或空心球或空心圆柱段或空心球段。

3.根据权利要求1和2中任一项所述的设备(1)，其特征在于，ATR元件(6)的测量射线的入口区域(61)和/或出口区域(62)被设计成使得测量射线在ATR元件(6)中与纵轴平行地被引导至出口区域(62)。

4.根据权利要求1和2中任一项所述的设备(1)，其特征在于，在圆柱形ATR元件(6)的情况下，测量射线的入口区域(61)和/或出口区域(62)被设计成使得测量射线在ATR元件(6)中以圆形环绕的方式被引导至出口区域(62)。

5.根据权利要求1和2中任一项所述的设备(1)，其特征在于，在圆柱形ATR元件(6)的情况下，测量射线的入口区域(61)和/或出口区域(62)被设计成使得测量射线在ATR元件(6)中以螺旋形环绕的方式被引导至出口区域(62)。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的设备(1)，其特征在于，设置有多个ATR元件(6)，所述多个ATR元件(6)以分布在所述探针主体(3)的周壁(31)上的方式布置。

7.根据权利要求1至6中任一项所述的设备(1)，其特征在于，至少一个ATR元件(6)与探针主体(3)的周壁(31)的外侧(312)齐平。

8.根据权利要求1至7中任一项所述的设备(1)，其特征在于，至少一个ATR元件(6)除测量射线的入口区域(61)和/或出口区域(62)之外与探针主体(3)的周壁(31)的内侧(311)齐平。

9.根据权利要求1至8中任一项所述的设备(1)，其特征在于，ATR元件(6)的测量射线的入口区域(61)和/或出口区域(62)被设计成光栅耦合器(65)和/或棱镜耦合器(66)。

10.根据权利要求1至9中任一项所述的设备(1)，其特征在于，ATR元件(6)的测量射线的入口区域(61)和/或出口区域(62)被设计成ATR元件(6)的内侧(63)上的锥形设计或凹口。

11.根据权利要求1至10中任一项所述的设备(1)，其特征在于，至少一个ATR元件(6)可用于另外的光学测量装置(8)的输入和输出耦合。

12.根据权利要求11所述的设备(1)，其特征在于，至少一个ATR元件(6)被实施为用于另外的光学测量装置的成像光学元件。

13.根据权利要求1至12中任一项所述的设备(1)，其特征在于，所述至少一个ATR元件(6)在内侧(63)和/或外侧(64)上至少部分地涂覆有介电层和/或金属层。