[发明专利]基于阴影分析确定场景中辐射源特性的方法和系统

权利要求书

1.一种用于确定场景中的波源特性的方法，包括：

感测包含表面和物体的场景的至少一个图像，其中，所述场景由至少一个清晰的辐射源照射；

维护所述场景的数据库，所述数据库存储所述场景中至少一些所述物体的至少部分的近似位置；

识别被怀疑由所述至少一个清晰的辐射源投射的至少一个候选剪影；

基于从所述数据库导出的数据，基于至少一个所识别的轮廓，导出所述至少一个清晰的辐射源的属性；

基于至少一个清晰的光源的所导出的属性计算剪影，并检查所计算的剪影所在的实际剪影是否存在，以验证所述至少一个清晰的辐射源的所导出的属性；以及

基于所计算的剪影的属性与所述实际剪影的属性之间的差异，更新所述至少一个清晰的辐射源的属性。

2.根据权利要求1所述的方法，其中，将清晰的辐射源定义为非环境辐射源。

3.根据权利要求1所述的方法，其中，导出所述至少一个清晰的辐射源的属性包括：将所述场景映射到关于所述至少一个清晰的辐射源的存在和属性的可能性和置信度的映射图中。

4.根据权利要求1所述的方法，其中，基于从所述数据库导出的所述场景中的所述物体的边界，通过从至少一个所述候选剪影的轮廓回溯辐射线来实现辐射源属性的导出。

5.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：检测所述场景中没有剪影的区域，并基于所检测的区域和从所述数据库导出的数据来计算清晰的光或辐射源不能位于的地方。

6.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：获得所述场景中的环境辐射水平，并基于所述环境辐射水平，归一化所述至少一个清晰的辐射源的所导出的属性。

7.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：获得与所述场景中至少一个反射表面相关的信息，并且其中，所述至少一个清晰的辐射源的属性的导出进一步基于已知由所述至少一个反射表面反射的所述至少一个清晰的辐射源的反射所投射的至少一个已识别的剪影。

8.一种用于确定场景中的波源特性的系统，包括：

感测装置，被配置为感测包含表面和物体的场景的至少一个图像，其中，所述场景由至少一个辐射源照射；

所述场景的数据库，被配置为存储所述场景中至少一些所述物体的至少部分的近似位置；以及

计算机处理器，被配置为：

识别被怀疑由至少一个物体投射的至少一个候选剪影，

基于至少一个已识别的剪影和至少一个相应的物体，导出所述至少一个辐射源的至少一些属性，

基于至少一个清晰的光源的所导出的属性计算剪影，并检查所计算的剪影所在的实际剪影是否存在，以验证所述至少一个清晰的辐射源的所导出的属性；以及

基于所计算的剪影的属性与所述实际剪影的属性之间的差异，更新所述至少一个清晰的辐射源的属性。

9.根据权利要求8所述的系统，其中，清晰的辐射源被定义为非环境辐射源。

10.根据权利要求8所述的系统，其中，导出至少一个清晰的辐射源的属性包括：将所述场景映射到关于所述至少一个清晰的辐射源的存在和属性的可能性和置信度的映射图中。

11.根据权利要求8所述的系统，其中，基于从所述数据库导出的所述场景中的所述物体的边界，通过从至少一个所述候选剪影的轮廓回溯辐射线来实现辐射源属性的导出。

12.根据权利要求8所述的系统，其中，所述计算机处理器进一步被配置为：检测所述场景中没有剪影的区域，并基于所检测的区域和从所述数据库导出的数据来计算清晰的光或辐射源不能位于的地方。

13.根据权利要求8所述的系统，其中，所述计算机处理器进一步被配置为：获得所述场景中的环境辐射水平，并基于所述环境辐射水平，归一化至少一个清晰的辐射源的所导出的属性。

14.根据权利要求8所述的系统，其中所述计算机处理器进一步被配置为：获得与所述场景中至少一个反射表面相关的信息，其中，所述至少一个清晰的辐射源的属性的导出进一步基于已知由所述至少一个反射表面反射的所述至少一个清晰的辐射源的反射所投射的至少一个已识别的剪影。