[发明专利]光子计数CT装置有效

专利信息
申请号: 201680078044.3 申请日: 2016-11-17
公开(公告)号: CN108472004B 公开(公告)日: 2021-07-23
发明(设计)人: 小岛进一;昆野康隆;渡边史人;高桥勋 申请(专利权)人: 株式会社日立制作所
主分类号: A61B6/03 分类号: A61B6/03
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 范胜杰;曹鑫
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 光子 计数 ct 装置
【说明书】:

本发明提供一种光子计数CT装置,其中,能够收集更准确的数据。设置参考检测部(350)和用于测量X射线照射部(310)的旋转方向的时间波动的时间测量器(345),使用时间测量器(345)的输出即时间测量数据,对参考检测部(350)的测量数据的旋转方向的时间波动进行校正,使用校正后的参考检测部(350)的测量数据,进行X射线照射部(310)的X射线管(311)的波动和堆积的校正,从而能够进行高精度的数据校正。

技术领域

本发明涉及具有光子计数(photon counting)模式的X射线CT(ComputedTomography)装置(以下,称为PCCT装置),特别是涉及更准确的校正数据收集技术。

背景技术

X射线CT装置是一边使隔着被拍摄体对置配置的X射线源和X射线检测器的对旋转,一边得到被拍摄体的X射线透射数据,通过计算重建其断层图像(以下,称为CT图像)的装置,被用作工业用以及安全用的检查装置、医学用的图像诊断装置等。

在医学用的X射线CT装置中,有搭载了光子计数模式的PCCT装置。PCCT装置中,例如如专利文献1所示,利用光子计数方式的X射线检测器,按每个检测元件对透射被拍摄体的X射线的光子(X射线光子)进行计数。由此,例如得到能够推断构成X射线透射的被拍摄体的内部组织的元素的光谱,能够得到详细描绘出元素水平的差异的X射线CT图像。

另外,PCCT装置中,通过能量值辨别所计数的各个X射线光子,从而能够得到每个能量值的X射线强度。利用这一点,在PCCT装置中,有时仅提取出特定的能量范围的X射线来图像化并用于诊断。

X射线CT装置中使X射线源旋转,从各种角度拍摄被拍摄体,然而产生基于旋转方向的凹口的间隔的误差的旋转方向的时间积分结果的波动(以下,称为旋转方向的时间波动)。即,在对旋转方向的一个一个数据进行积分的区间(以下,将该1区间称为视图(view))产生误差,因视图的长度的不同而比其他区间长的区间的数据增多,相反,短的区间的数据减少。并且X射线源的X射线强度在时间上产生波动,因此这些误差导致在X射线CT装置中得到的图像上产生伪影。为了防止这些伪影,在X射线CT装置中,使用参考检测器来减少这些误差。具体而言,在不通过被拍摄体的位置配置参考用的X射线检测器,与透过被拍摄体的位置的X射线检测器以相同的时间进行测量,从而收集基于旋转方向的凹口的间隔的误差的旋转方向的时间波动和X射线源的波动的数据。然后,以各视图中的X射线检测器和参考检测器的输出之比进行校正,从而能够校正这2个误差。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开2015-131028号公报

发明内容

发明要解决的课题

PCCT装置中,也产生与上述的X射线CT装置相同的基于旋转方向的凹口的间隔的误差的旋转方向的时间波动以及X射线源的波动。因此,需要参考检测器,然而在PCCT装置的情况下还按每个能量范围收集数据,所以需要按每个能量范围假定X射线的波动。然而,光子计数方式的检测器包含伴随着检测器特性的每个能量范围的偏差即堆积(Pile up)引起的检测误差,同样地,参考检测器的数据也包含伴随着堆积的误差,所以需要与以往的X射线CT装置不同的误差减少。

本发明鉴于上述课题而完成,其目的在于提供能够高精度地校正各种波动的PCCT装置。

用于解决课题的手段

为了实现上述的目的,本发明中,提供一种光子计数CT装置,其具备照射X射线的X射线照射部、检测X射线的光子计数方式的X射线检测部、按照每个预先设定的分区的能量范围,对通过X射线检测部检测出的X射线光子进行计数,得到每个能量范围的测量信息的数据收集部、测量从X射线照射部照射的X射线的波动的参考检测部、测量X射线照射部的旋转方向的时间波动的时间测量部。

发明效果

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