[发明专利]放射线摄像装置有效

专利信息
申请号: 201680077888.6 申请日: 2016-12-21
公开(公告)号: CN108474861B 公开(公告)日: 2022-03-25
发明(设计)人: 石津崇章;高桥勋;横井一磨;佐藤诚 申请(专利权)人: 富士胶片医疗健康株式会社
主分类号: G01T1/24 分类号: G01T1/24;A61B6/00;A61B6/03;G01T7/00
代理公司: 北京银龙知识产权代理有限公司 11243 代理人: 金鲜英;马铁军
地址: 日本*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 放射线 摄像 装置
【权利要求书】:

1.一种放射线摄像装置,其特征在于,包括:

格栅,用以去除来自被照射体的散射线,和

多个检测器子像素,配置为在所述格栅之间存在3个以上检测器子像素;

其中,在从X射线的入射方向看的平面视图中,位于所述格栅壁面之下的检测器子像素的面积比不位于所述格栅壁面之下的检测器子像素的面积大,从而使得检测器子像素的灵敏度接近一致。

2.根据权利要求1所述的放射线摄像装置,其特征在于,在所述平面视图中,Pg为所述格栅间x方向或y方向上的间距,Tg相应为所述格栅x方向或y方向上的厚度,N相应为所述格栅间x方向或y方向上的所述检测器子像素被分割的个数,不位于所述格栅壁面之下的检测器子像素的尺寸为:

[数1]

其中,Lsplit为0μm至30μm。

3.根据权利要求2所述的放射线摄像装置,其特征在于,所述格栅为1维格栅。

4.根据权利要求2所述的放射线摄像装置,其特征在于,所述格栅为2维格栅。

5.一种放射线摄像装置,其特征在于,包括:

格栅,用以去除来自被照射体的散射线,

半导体元件,

共用电极,其形成于所述半导体元件的一侧表面,和

分割电极,其形成于所述半导体元件的另一侧表面;

其中,在从X射线的入射方向看的平面视图中,位于所述格栅壁面之下的分割电极的面积大于不位于所述格栅壁面之下其他分割电极的面积,从而使得检测器子像素的灵敏度接近一致。

6.根据权利要求5所述的放射线摄像装置,其特征在于,在所述平面视图中,G为所述分割电极x方向或y方向上的间隙距离,Pg相应为x方向或y方向上所述格栅间的间距,Tg相应为所述格栅x方向或y方向上的厚度,N相应为当所述格栅间x方向或y方向上的所述检测器子像素被分割的个数,不位于所述格栅壁面之下的检测器子像素的分割电极的宽度为:

[数2]

其中,Lsplit为0μm至30μm。

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