[发明专利]检测闪光和辉光反应中的分析物有效
申请号: | 201680077143.X | 申请日: | 2016-12-29 |
公开(公告)号: | CN108431818B | 公开(公告)日: | 2022-03-25 |
发明(设计)人: | D.A.雷;P.海特;M.沙尔马;N.赖尼希 | 申请(专利权)人: | 豪夫迈·罗氏有限公司 |
主分类号: | G16C10/00 | 分类号: | G16C10/00;G16C20/10;G16C20/70 |
代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 周学斌;申屠伟进 |
地址: | 瑞士*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检测 闪光 辉光 反应 中的 分析 | ||
提供在样本中存在或不存在分析物(例如MRSA)的准确测量。例如,样本可能受到活性试剂(潜在地在初始试剂已经被添加之后)的影响,其可以引起随着时间增加并且然后降低的闪光信号。可以使用检测器根据闪光信号来测量信号数据点。可以确定拟合信号数据点的二次回归函数。可以确定二次拟合的准确度以及信号对背景比。可以将信号对背景项和准确度项之间的差用作与阈值相比较以确定样本中是否存在分析物的得分。
背景技术
在用于化学计量等的许多应用中,样本的间接测量和直接测量(例如浓度)被用来开发可以用来根据间接测量来预测直接测量的校准曲线。在某些情况下,Y可以是一个或多个间接测量(例如多变量数据)并且X可以是直接测量。可以在X和Y之间形成校准曲线,并对X和Y的分布作了正态性假设。
在许多情况下,直接变量X是连续的,并且残差分析可以被用来确定校准曲线。这样的预测不适用于在其中X是类变量(即X对应于两个(二进制)或更多类)的情况。在许多应用中,直接测量可以是一个类变量;并且在这种情况下,逻辑回归或判别分析可以被用来基于间接测量以及间接测量与直接测量之间的关系来预测该类。在逻辑回归中,基于在每类中的似然/概率来指定分类。对间接测量进行正态性假设,并且分类是根据优势比计算来实现的。
在判别分析中,计算来自不同类的间接测量的线性距离,并基于最小的距离来指定该类。在这种情况下,对间接测量的分布也作了正态性假设。在某些应用中,有兴趣的是将在截止附近的类从一个类区别至另一个类,例如在确定分析物在样本中的存在或不存在的情况下。
但是,可能难以准确地执行这样的区别,从而缩小了敏感性和特异性。当随着时间存在多个间接测量时可能甚至更难以准确确定这样的区别,就像在闪光(flash)反应中可能发生的那样(例如,包括耐甲氧西林金黄色葡萄球菌(MRSA))。
发明内容
实施例可以提供分析物(例如MRSA)在样本中的存在或不存在的准确测量。例如,样本可以经受活化试剂(潜在地在已经添加初始试剂之后),这可以促使随着时间增加并且然后减小的闪光信号。可以使用检测器来从闪光信号测量信号数据点。实施例可以确定拟合信号数据点的回归函数。可以确定回归函数的准确度项,以及信号对背景项。信号对背景项和准确度项之间的差可以被用作与阈值相比较以确定样本中是否存在分析物的得分。
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