[发明专利]一种单板、电子设备及选通的方法

说明书

一种单板、电子设备及选通的方法，所述单板包括：联合测试行动组JTAG模块(11)、存储模块(14)、通道选择模块(12)及存储接口(13)；所述通道选择模块(12)与所述JTAG模块(11)电连接，所述通道选择模块(12)与所述存储接口(13)电连接，所述存储模块(14)，所述通道选择模块(12)与所述存储模块(14)电连接；所述通道选择模块(12)，用于在JTAG测试设备与所述存储接口(13)电连接时，连通所述存储接口(13)与所述JTAG模块(11)；以及在存储设备与所述存储接口(13)电连接时，连通所述存储接口(13)与所述存储模块(14)。能够提高后期JTAG测试的效率、电子设备的集成度和美观性。

技术领域

本发明涉及电子技术领域，尤其涉及的是一种单板、电子设备及选通的方法。

背景技术

目前，电子设备日趋智能化、小型化和高集成度方向发展，电子设备内部的各功能接口也越来越多，为方便后期对电子设备的故障诊断和调试等，一般在电子设备外引出对应内部功能电路的功能接口，如图1-1所示，主控芯片中联合测试工作组(JTAG，Joint TestAction Group)电路和安全数字存储卡(SD，Secure Digital Memory Card)内部电路独立，分别为JTAG电路和SD内部电路引出独立的JTAG接口和SD接口，测试人员通过这两个引出的JTAG接口和SD接口，即可连接外部的JTAG测试设备和SD设备，并进行相应的测试、读/写等操作。由于目前的电子设备的电路板一般较小，且外部接口设计紧凑，故为提高便携度和美观性，一般不会将电子设备内部用于测试、调试等功能接口外引，使得在后期电子设备的故障诊断和调试带来不便，在故障诊断或调试时需要拆开电子设备的壳体，在电子设备内部电路板上飞线，诊断效率或调试效率较低，且容易对壳体和电路板等造成损坏。

现有机制中，一般采用复用电子设备外引的现有接口实现其他功能，实现在不增设额外接口的前提下，也能增加电子设备的功能，以及提高电子设备的集成度。如图1-2所示，在主控芯片内部复用主控芯片的输入/输出(I/O，Input/Output)接口，通过复用SD接口实现JTAG接口的功能，在进行JTAG测试时，需要使用专用转接板连接SD接口和JTAG测试设备，测试人员通过JTAG测试设备中的调试软件，通过专用转接板发送特定指令给主控芯片，使得主控芯片能够识别JTAG测试设备，从而实现JTAG功能与SD功能之间的切换。由于是通过复用主控芯片的I/O接口来实现SD功能与JTAG功能，故只有在主控芯片正常工作时才能完成功能切换，并且还需要专用转接板和专用调试软件，才能实现SD功能和JTAG功能的切换。并且在主控芯片无法正常工作时，无法进行JTAG测试，即无法针对JTAG电路的芯片单体进行JTAG测试。

发明内容

本申请提供了一种单板、电子设备及JTAG测试的方法，能够解决现有技术中JTAG测试效率较低的问题。

本申请第一方面提供了一种单板，所述单板包括：

联合测试行动组JTAG模块、存储模块、通道选择模块及存储接口；

所述通道选择模块与所述JTAG模块电连接，所述通道选择模块与所述存储接口电连接，所述通道选择模块与所述存储模块电连接；

所述通道选择模块，用于在JTAG测试设备与所述存储接口电连接时，连通所述存储接口与所述JTAG模块；

以及在存储设备与所述存储接口电连接时，连通所述存储接口与所述存储模块。通过所述通道选择模块复用存储接口，实现在JTAG模式和存储模式之间切换。所述存储接口为SD接口。

在一些可能的设计中，所述通道选择模块，还用于在连通所述存储接口与所述JTAG模块，即所述JTAG测试设备与所述JTAG模块形成通路时，将来自所述JTAG测试设备的JTAG测试信号输入所述JTAG模块；