[发明专利]用于校准至少一个测距装置的校准系统

权利要求书

1.一种用于校准至少一个测距装置(2)的校准系统(1)，包括：

-至少一个测量部分(3)，在所述至少一个测量部分处安装所述至少一个测距装置(2)，

-至少一个反射器(4)，所述至少一个反射器能够移动地安装在所述至少一个测量部分(3)上以反射从所述至少一个测距装置(2)发送的测量信号(D_i)，以及

-激光跟踪仪(5)，

其特征在于：

提供反射镜装置(6)，所述反射镜装置将所述激光跟踪仪(5)的激光束引导至布置在所述测距装置(2)处的回射器，以使得所述激光跟踪仪(5)能够确定到所述至少一个反射器(4)的至少一个距离(M_i)以及到所述至少一个测距装置(2)的至少一个参考距离(R_i)。

2.根据权利要求1所述的校准系统，

其特征在于：

用于校准多个测距装置(2)的所述校准系统(1)包括多个测量部分(3)，每个测量部分具有一个反射器(4)，由此所述反射镜装置(6)被构造成使得所述激光跟踪仪(5)能够在每个测量部分(3)处确定到相应的所述反射器(4)的距离(M_i)和到相应的所述测距装置(2)的参考距离(R_i)。

3.根据权利要求1或2所述的校准系统，

其特征在于：

所述至少一个测量部分还包括用于移位所述至少一个反射器(4)的设定装置(7)。

4.根据权利要求3所述的校准系统，

其特征在于：

提供了用于控制所述测距装置(2)、所述激光跟踪仪(5)和/或所述设定装置(7)的上级单元。

5.根据权利要求1所述的校准系统，

其特征在于：

所述至少一个测量部分(3)是波涌管。

6.根据权利要求5所述的校准系统，其特征在于：

所述至少一个波涌管(3)具有在DN 100与DN 300之间的范围内的标称直径。

7.一种用于使用前述权利要求中任意一项所述的校准系统校准至少一个测距装置(2)的方法，包括以下方法步骤：

-所述激光跟踪仪(5)确定参考距离(R_i)，

-所述激光跟踪仪(5)确定距离(M_i)，

-基于所述参考距离(R_i)和所述距离(M_i)，确定测量距离(X_i)

-从所述测距装置(2)发送的测量信号(D_i)在被所述反射器(4)反射之后被所述测距装置(2)接收，以及

-基于所反射的测量信号(D_i)和所述测量距离(X_i)校准所述测距装置，

由此，在沿着所述测量部分(3)以不同的测量距离(X₁-X_n)移位所述反射器(4)的同时，校准所述测距装置(2)。

8.根据权利要求7所述的方法，其中，在沿着所述测量部分(3)移位所述反射器(4)的同时，在不同测量距离(X₁-X_n)处确定所述参考距离(R₁，...，R_n)。

9.根据权利要求7或8中的一项所述的方法，其中在确定所述距离(M_i)、所述参考距离(R_i)和/或所反射的测量信号(D_i)时，考虑温度、环境压力和/或湿度。

10.根据权利要求7或8中的一项所述的方法，其中，在所述校准系统包括多个测量部分(3)的情况下，在每个所述测量部分(3)处执行：

-所述激光跟踪仪(5)确定参考距离(R_i)，

-所述激光跟踪仪(5)确定距离(M_i)，

-基于所述参考距离(R_i)和所述距离(M_i)，确定测量距离(X_i)

-从所述测距装置(2)发送的测量信号(D_i)在被所述反射器(4)反射后被所述测距装置(2)接收，以及

-基于所反射的测量信号(D_i)和所述测量距离(X_i)，校准所述测距装置。