[发明专利]显微镜系统及其控制方法有效

专利信息
申请号: 201680072642.X 申请日: 2016-12-07
公开(公告)号: CN108369331B 公开(公告)日: 2020-09-29
发明(设计)人: 坂元亨宇;桥口明典;增田紫乃舞;坂田继英;酒井昭弘;安藤浩武;加藤和彦 申请(专利权)人: 佳能株式会社
主分类号: G02B21/24 分类号: G02B21/24;G02B21/26;G02B21/36
代理公司: 北京魏启学律师事务所 11398 代理人: 魏启学
地址: 日本东京都大*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 显微镜 系统 及其 控制 方法
【权利要求书】:

1.一种显微镜系统,包括:

观察光学系统,其包括物镜;

摄像单元,用于拍摄所述观察光学系统所获得的观察对象的图像;

台,其能够沿X轴方向、Y轴方向和Z轴方向移动,其中在所述台上放置所述观察对象的载玻片;

第一获得部件,用于获得由X轴方向、Y轴方向和Z轴方向所限定的位置信息;以及

处理部件,用于将所述位置信息和通过所述摄像单元拍摄所述观察对象所获得的所述观察对象的图像彼此相关联地存储在存储部件中,

其中,所述台包括:

第一台,其包括用于使放置所述载玻片的包括X轴方向和Y轴方向的XY面移动的机构,并且所述第一台在所述XY面上的与载玻片放置位置不同的能够利用所述摄像单元进行摄像的区域中包括第一标记和第二标记;以及

第二台,用于使所述第一台沿显微镜的Z轴方向移动,其中显微镜的Z轴方向与所述观察光学系统中所安装的物镜的光轴方向对准,

其中,所述第一获得部件将基于通过所述摄像单元拍摄所述第一台上设置的所述第一标记获得的图像而获得的X轴方向和Y轴方向上的位置以及基于所述第二标记的焦点位置而获得的Z轴方向上的位置确定为台基准位置,并且以所述台基准位置为基准来获得X轴方向、Y轴方向和Z轴方向上的观察位置。

2.根据权利要求1所述的显微镜系统,其中,还包括:

第二获得部件,用于获得所述存储部件中所存储的所述观察对象的第一图像;

台控制部件,用于控制所述台,以观察与同所述第二获得部件所获得的所述第一图像相关联的位置信息相对应的位置;以及

显示控制部件,用于将所述第一图像和第二图像显示在显示单元上,其中所述第二图像是通过在利用所述台控制部件进行控制的状态下所述摄像单元拍摄所述观察对象所获得的。

3.根据权利要求2所述的显微镜系统,其中,在所述第一图像和所述第二图像中,所述观察对象相同,但所述观察对象的染色状态不同。

4.根据权利要求1至3中任一项所述的显微镜系统,其中,所述第一获得部件获得以所述台为基准的位置信息,其中该位置信息是由X轴方向、Y轴方向和Z轴方向限定的、并且是基于通过所述摄像单元拍摄所述台上的第一标记获得的所述第一标记的图像而获得的。

5.根据权利要求1至3中任一项所述的显微镜系统,其中,所述第一获得部件获得以载玻片为基准的位置信息,其中该位置信息是由X轴方向、Y轴方向和Z轴方向限定的、并且是基于通过所述摄像单元拍摄作为所述观察对象的所述载玻片上的第二标记获得的所述第二标记的图像而获得的。

6.根据权利要求5所述的显微镜系统,其中,在获得所述第二标记的图像的情况下,所述处理部件将以所述载玻片为基准的位置信息与所述观察对象的图像相关联地存储在所述存储部件中。

7.根据权利要求1所述的显微镜系统,其中,还包括:

第一调整部件,用于调整所述第一台的上表面相对于Z轴方向的斜度;以及

第一倾斜校正部件,用于基于所述第二标记的至少三个位置处的焦点位置,使用所述第一调整部件来进行调整,使得所述第一台的XY面变得与Z轴的垂直面平行,

其中,在利用所述第一倾斜校正部件进行了调整之后,所述第一获得部件确定所述台基准位置。

8.根据权利要求7所述的显微镜系统,其中,所述第一倾斜校正部件基于所述摄像单元检测到的、所述第一台的上表面所配置的所述第二标记的至少三个位置处的焦点位置,来估计所述第一台的XY面相对于沿Z轴方向垂直的面的斜度,并且所述第一倾斜校正部件调整所述第一台的上表面相对于Z轴方向的斜度以消除所估计出的斜度。

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