[发明专利]光学特性测量装置

说明书

一种光学特性测量装置，是能够同时测量闪烁和与闪烁不同的光学特性的装置，包括：第一受光传感器，用于测量闪烁；第一后级电路，输入从第一受光传感器输出的信号；第二受光传感器，用于测量光学特性；以及第二后级电路，输入从第二受光传感器输出的信号。

技术领域

本发明涉及例如测量液晶显示器的光学特性的技术。

背景技术

诸如液晶显示器的显示装置在开发过程或制造过程中被测量多个光学特性(例如，闪烁、色度、亮度)。如果能够在一台装置上测量多个光学特性则较为便利。作为这种装置，专利文献1公开了包括如下部件的显示特性测量装置：第一受光部，在接受了光时，输出表示X值的信号；第二受光部，输出表示Y值的信号；以及第三受光部，输出表示Z值的信号；第一放大器，放大从第一受光部输出的信号；第二放大器，放大从第二受光部输出的信号；以及第三放大器，放大从第三受光部输出的信号。第一受光部、第二受光部以及第三受光部各自是滤波器和光电二极管的组合。X值、Y值、Z值分别意为三个刺激值X、Y、Z。

在专利文献1公开的装置中，与第二放大器的输出连接的接线(表示Y值的信号流过的接线)分支为第一接线和第二接线。该装置通过将流过第一接线的信号设为用于测量闪烁的信号，并将流过第二接线的信号设为用于测量色度以及亮度的信号，从而能够同时测量闪烁、色度以及亮度。

专利文献1中公开的装置将作为第二受光部的后级电路的第二放大器兼用于闪烁的测量和色度以及亮度的测量。但是，适用于闪烁的测量的后级电路与适用于色度以及亮度的测量的后级电路分别不同。

详细而言，为了提高亮度的测量精度，必须提高从第二受光部输出的表示Y值的信号的SN比。为了表示Y值的信号的放大以及SN比提高，作为后级电路，考虑应用使用了运算放大器的积分电路的情况。该积分电路通过对表示Y值的信号进行时间积分，从而相对地降低噪音分量，提高SN比。如果在积分电路中的积分时间长，则SN比变高。

Y信号也被利用于闪烁的测量。为了测量闪烁，需要提高采样率。为了提高采样率，必须缩短积分电路的积分时间。若积分时间变短，则SN比不会变高。因此，在使用了运算放大器的积分电路被兼用于闪烁的测量和色度以及亮度的测量，且同时执行这些测量的情况下，不能提高SN比。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:(日本)特开2002-122513号公报

发明内容

本发明的目的在于，提供一种光学特性测量装置，该光学特性测量装置能够同时测量闪烁和与闪烁不同的光学特性，并且能够分别使用适用于闪烁的测量的后级电路和适用于与闪烁不同的光学特性的测量的后级电路。

实现上述目的的本发明的光学特性测量装置是能够同时测量闪烁和与所述闪烁不同的光学特性的光学特性测量装置，包括：第一受光传感器，用于测量所述闪烁；第一后级电路，输入从所述第一受光传感器输出的信号；第二受光传感器，用于测量所述光学特性；以及第二后级电路，输入从所述第二受光传感器输出的信号。

本发明的上述以及其他目的、特征以及优点，通过以下的详细描述和附图会变得更清楚。

附图说明

图1是表示第一实施方式的光学特性测量装置的整体结构的框图。

图2是表示图1所示的光学特性测量装置中包括的由受光传感器以及放大器构成的电路的电路图。

图3是表示比较例的光学特性测量装置中包括的由受光传感器以及放大器构成的电路的电路图。

图4是表示第二实施方式的光学特性测量装置在第一模式下，该光学特性测量装置中包括的由受光传感器以及放大器构成的电路的连接状态的电路图。