[发明专利]用于芯片上可靠性控制器的设备和方法

权利要求书

1.一种处理器，包括：

一个或多个核的集合，用于执行指令和处理数据；

可靠性控制器，用于执行一个或多个自检/诊断操作，所述可靠性控制器用于聚合由所述自检/诊断操作产生的和从在整个所述处理器上分布的一个或多个传感器阵列收集的可靠性数据，其中所述可靠性数据包括与电压、频率、偏置温度不稳定性（BTI）、电迁移（EM）损坏、栅氧化层（GOX）读数和/或热载流子注入（HCI）读数有关的数据；

可靠性估计器，作为所述可靠性控制器的组成部分，用于使用所述聚合的可靠性数据来执行概率分析，以确定针对所述处理器的一个或多个组件的可靠性估计；以及

控制单元，作为所述可靠性控制器的组成部分，用于响应所述可靠性估计，基于性能/寿命简档来调整与所述处理器的操作有关的一个或多个变量和/或电路系统。

2.根据权利要求1所述的处理器，其中所述一个或多个变量包括所述处理器的所述一个或多个组件操作所在的频率和/或电压。

3.根据权利要求2所述的处理器，其中所述控制单元将响应所述可靠性估计，执行自老化操作。

4.根据权利要求2所述的处理器，其中所述控制单元将响应所述可靠性估计，执行自愈合操作。

5.根据权利要求2所述的处理器，其中所述控制单元将响应所述可靠性估计，执行自修复操作。

6.根据权利要求1所述的处理器，其中所述概率分析包括对所述聚合的数据执行的贝叶斯概率计算。

7.根据权利要求1所述的处理器，其中所述控制单元配置成基于如由客户要求指示的性能和/或可靠性的期望级别，调整所述一个或多个变量和/或电路系统。

8.一种处理方法，包括：

在处理器上执行一个或多个自检/诊断操作；

聚合由所述自检/诊断操作产生的和从在整个所述处理器上分布的一个或多个传感器阵列接收的可靠性数据，其中所述可靠性数据包括与电压、频率、偏置温度不稳定性（BTI）、电迁移（EM）损坏、栅氧化层（GOX）读数和/或热载流子注入（HCI）读数有关的数据；

使用所述聚合的可靠性数据来执行概率分析，以确定针对所述处理器的一个或多个组件的可靠性估计；以及

响应所述可靠性估计，基于性能/寿命简档来调整与所述处理器的操作有关的一个或多个变量和/或电路系统。

9.根据权利要求8所述的处理方法，其中所述一个或多个变量包括所述处理器的所述一个或多个组件操作所在的频率和/或电压。

10.根据权利要求9所述的处理方法，其中所述处理方法还包括响应所述可靠性估计，执行自老化操作。

11.根据权利要求9所述的处理方法，其中所述处理方法还包括响应所述可靠性估计，执行自愈合操作。

12.根据权利要求9所述的处理方法，其中所述处理方法还包括响应所述可靠性估计，执行自修复操作。

13.根据权利要求8所述的处理方法，其中所述概率分析包括对所述聚合的数据执行的贝叶斯概率计算。

14.根据权利要求8所述的处理方法，其中所述处理方法还包括基于如由客户要求指示的性能和/或可靠性的期望级别，调整所述一个或多个变量和/或电路系统。