[发明专利]用于校正错误深度信息的系统和方法

说明书

描述一种用于产生经校正深度图的电子装置。所述电子装置包含处理器。所述处理器经配置以获得第一深度图。所述第一深度图包含由深度传感器在第一取样进行取样的场景的第一部分的第一深度信息。所述处理器还经配置以获得第二深度图。所述第二深度图包含由所述深度传感器在第二取样进行取样的所述场景的第二部分的第二深度信息。所述处理器另外经配置以获得指示所述深度传感器在所述第一取样与所述第二取样之间的移位的移位信息。所述处理器还经配置以通过基于所述第一深度信息、所述第二深度信息和所述移位信息校正错误深度信息来产生经校正深度图。

技术领域

本发明大体涉及电子装置。更具体来说，本发明涉及用于校正错误深度信息的系统和方法。

背景技术

在最近几十年中，电子装置的使用已变得普遍。确切地说，技术的进步已降低了愈加复杂且有用的电子装置的成本。成本降低和消费者需求已使电子装置的使用剧增，使得其在现代社会中几乎随处可见。由于电子装置的使用已推广开来，因此具有对电子装置的新的且改进的特征的需求。更具体来说，人们常常寻求执行新功能和/或更快、更有效或以更高质量执行功能的电子装置。

深度是三维(3D)空间的分量。举例来说，深度可表示为3D空间中的两个点之间的距离。在尝试利用电子装置准确地测量现实世界情境中的深度存在许多困难。

确切地说，运动和测量中断可能会损坏深度测量值，从而导致不准确和/或无用的深度测量值。如可从此论述观察到，改进深度测量值可为有益的。

发明内容

描述一种用于产生经校正深度图的电子装置。所述电子装置包含深度传感器。所述电子装置还包含耦合到所述深度传感器的运动传感器。所述运动传感器经配置以确定运动信息。所述电子装置进一步包含耦合到所述深度传感器和所述运动传感器的处理器。所述处理器经配置以获得第一深度图。所述第一深度图包含由所述深度传感器在第一取样进行取样的场景的第一部分的第一深度信息。所述处理器还经配置以获得第二深度图。所述第二深度图包含由所述深度传感器在第二取样进行取样的所述场景的第二部分的第二深度信息。所述处理器进一步经配置以基于所述运动信息来获得指示所述深度传感器在所述第一取样与所述第二取样之间的移位的移位信息。所述处理器另外经配置以通过基于所述第一深度信息、所述第二深度信息和所述移位信息校正错误深度信息来产生经校正深度图。

所述处理器可经配置以基于所述移位信息来变换所述第一深度图以产生经变换深度图。所述处理器可经配置以基于所述经变换深度图来校正所述第二深度图的所述错误深度信息。

所述处理器可经配置以用所述经变换深度图的对应深度信息替换所述错误深度信息。所述处理器可经配置以对所述第二深度图的非错误深度信息与所述经变换深度图的对应非错误深度信息求平均。

所述处理器可经配置以通过比较所述第二深度图的深度与所述经变换深度图的深度来检测所述错误深度信息。所述处理器可经配置以确定所述第二深度图的所述深度是否比所述经变换深度图的所述深度大阈值量。所述处理器可经配置以基于所述经变换深度图的至少两个深度与所述第二深度图的至少两个深度之间的空间-时间平均值来检测所述错误深度信息。

所述处理器可经配置以将深度传感器平面上的一或多个点投影到世界坐标上以产生一或多个世界坐标点。所述处理器还可经配置以旋转所述一或多个世界坐标点。所述处理器可经进一步配置以平移所述一或多个世界坐标点。所述处理器可另外经配置以重新投影所述一或多个世界坐标点以产生所述经变换深度图。

所述处理器可经配置以基于所述第二深度图中的两个或更多个深度的空间平均值来检测所述错误深度信息。所述错误深度信息可包含深度传感器中断。