[发明专利]电容检测方法、位置检测方法、触摸面板控制器、及电子机器

说明书

本发明利用简单的构成来检测触摸面板上的检测电极与触笔之间的电容分布。本发明包含：读出步骤，其经由排列在Y轴方向的控制线(DSS)，将自检测电极(E)与排列在X轴方向的驱动感应线(DS)之间的多个驱动感应开关元件(DST)中根据编码序列所选择的开关元件开启，并读出来自检测电极(E)的线性和信号(linear sum signal)；及检测步骤，其检测电容。

技术领域

本发明涉及一种采用检测多个电极与对所述电极施加交流电压的触笔之间的电容或电容变化的触摸面板的电容检测方法、位置检测方法、触摸面板控制器、及电子机器。

背景技术

专利文献1中公开了一种采用检测多个电极与检测对象之间的电容或电容变化的触摸面板的电容检测方法。

图9是表示以往的触摸面板系统的构成的电路图。触摸面板92包含以矩阵状相互隔着间隔地配置成4行3列的12个检测电极E。与各检测电极E结合的感应线S连接于读出电路95。

在采用如此构成的触摸面板92的电容检测方法中，和各检测电极E与检测对象之间的静电电容对应的信号通过对应的感应线S于读出电路95被读出。并且，检测出所述静电电容或静电电容变化在触摸面板92上的分布。

现有技术文献

专利文献

专利文献1：日本公开专利公报“特开2015-32234号公报(2015年2月16日公开)”

发明内容

本发明所要解决的技术问题

然而，图9中表示的如上述的现有技术中，为了检测静电电容或静电电容变化在触摸面板92上的分布，不得不从触摸面板92的所有检测电极E将感应线S引至读出电路95。因此，当关注于触摸面板的大型化时，感应线S的配线电阻增大，读出电路95的通道数(感应线S的根数)和检测电极E的行数与列数的乘积成正比地扩大，产生触摸面板系统的构成变得复杂的问题。

本发明的目的在于提供一种能够利用简单的构成来检测触摸面板上的各检测电极与检测对象之间的电容分布的电容检测方法、位置检测方法、触摸面板控制器、及电子机器。

解决问题的手段

为了解决所述问题，本发明的一形态中的电容检测方法是检测配置成矩阵状的多个电极与对所述电极施加交流电压的触笔之间的电容或电容变化，该电容检测方法包含：读出步骤，其自各电极与排列在所述矩阵的第1方向的多个信号线之间的多个开关元件中，经由排列在与所述第1方向交叉的第2方向的多个控制线，而将根据编码序列所选择的开关元件开启，并循所述信号线读出来自各电极的线性和信号；及检测步骤，其通过所述线性和信号与和所述编码序列对应的译码编码序列的积和运算来检测所述电容或电容变化。

另外，本发明的一形态中的位置检测方法是通过检测配置成矩阵状的多个电极与对所述电极施加交流电压的触笔之间的电容或电容变化，而检测触摸面板上的所述触笔的位置，该位置检测方法包含：上述的电容检测方法；及位置检测步骤，其根据所述检测步骤中检测到的所述电容或电容变化，检测所述触摸面板上的所述触笔的位置。

另外，本发明的一形态中的触摸面板控制器是通过检测配置成矩阵状的多个电极与对所述电极施加交流电压的触笔之间的电容或电容变化，而控制触摸面板，该触摸面板控制器具有：读出电路，其自各电极与排列在所述矩阵的第1方向的多个信号线之间的多个开关元件中，经由排列在与所述第1方向交叉的第2方向的多个控制线，而将根据编码序列所选择的开关元件开启，并循所述信号线读出来自各电极的线性和信号；及检测电路，其通过所述线性和信号与和所述编码序列对应的译码编码序列的积和运算而检测所述电容或电容变化。

而且，本发明的一形态中的电子机器具有上述的触摸面板控制器。

发明效果