[发明专利]带有隔离阴极的光电二极管阵列在审
申请号: | 201680061522.X | 申请日: | 2016-08-26 |
公开(公告)号: | CN108140663A | 公开(公告)日: | 2018-06-08 |
发明(设计)人: | Y·尼 | 申请(专利权)人: | 新成像技术公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 北京戈程知识产权代理有限公司 11314 | 代理人: | 程伟;王锦阳 |
地址: | 法国韦里*** | 国省代码: | 法国;FR |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 掺杂区域 源层 衬底 光电二极管阵列 阴极区域 上层 磷化铟 埋入 隔离 阴极 光电二极管 阳极 不接触 铟镓砷 延伸 制造 | ||
1.一种光电二极管阵列,包括:
-磷化铟衬底(4);
-铟镓砷InGaAs有源层(5),其在所述磷化铟衬底(4)上,并具有第一类型的导电性;
-磷化铟上层(6),其在所述有源层(5)上,并具有第一类型的导电性;
-埋入区域(8),其通过第二类型的掺杂而得到限定,位于所述衬底(4)与所述有源层(5)之间的界面处;
其特征在于:所述阵列包括光电二极管阵列共用的阳极,所述阳极通过在所述有源层(5)中和所述上层(6)中的第二类型的掺杂区域(12)而形成,所述掺杂区域(12)从所述上层(6)延伸直到进入所述有源层(5)中,而不接触所述埋入区域(8),所述掺杂区域(12)与所述埋入区域(8)通过所述有源层(5)而以非零距离(d1)分隔,
在上层(6)中,所述掺杂区域(12)界定出若干没有进行第二类型掺杂的阴极区域(13),所述阴极区域(13)中的每个连续地通过所述掺杂区域(12)而与其它阴极区域(13)分开。
2.根据前述权利要求所述的阵列,其中,阳极空间电荷区(15)从第二类型的掺杂区域(12)与有源层(5)之间的每个界面延伸进入有源层(5)中,而埋入空间电荷区(16)从所述有源层(5)与埋入区域(8)之间的界面延伸进入有源层(5)中,所述阳极空间电荷区(15)与所述埋入空间电荷区(16)在有源层(5)中相互结合,使得上层(6)的阴极区域(13)的下方的有源层(5)的区域(18)连续地通过所述空间电荷区而相互隔离。
3.根据前述权利要求中的一项所述的阵列,其中,上层(6)的每个阴极区域(13)连接至适用于将第一电压(Vk)施加至所述阴极的偏置装置(21),并且其中,掺杂区域(12)连接至适用于将第二电压(Va1)施加至所述掺杂区域(12)的偏置装置(22),所述第一电压(Vk)与所述第二电压(Va1)具有不同的值,第一电压(Vk)与第二电压(Va1)之间的差值决定阳极空间电荷区(15)进入所述有源层(5)中的延伸,所述第一电压在最小阴极电压与最大阴极电压之间的范围内变化,所述第二电压(Va1)被选择为比所述最小阴极电压足够低,从而使得阳极空间电荷区(15)延伸进入所述有源层(5)中直至埋入空间电荷区(16)。
4.根据前述权利要求中的一项所述的阵列,其中,上层(6)的每个阴极区域(13)连接至适用于将第一电压(Vk)施加至所述阴极的偏置装置(21),并且其偏置装置中,埋入区域(8)连接至适用于将第三电压(Va2)施加至所述埋入区域(8)的偏置装置,所述第一电压(Vk)与所述第三电压(Va2)具有不同的值,第一电压(Vk)与第三电压(Va2)之间的差值决定埋入空间电荷区(16)进入所述有源层(5)中的延伸,所述第一电压在最小阴极电压与最大阴极电压之间的范围内变化,所述第三电压(Va2)被选择为比所述第一电压(Vk)足够低,使得埋入空间电荷区(16)延伸进入所述有源层(5)中直至阳极空间电荷区(15)。
5.根据前一权利要求所述的阵列,其中,最小阴极电压与第二电压(Va1)之间的差值小于最小阴极电压与第三电压(Va2)之间的差值。
6.根据权利要求2至5中的一项所述的阵列,其中,在没有极化时,在所述有源层(5)中阳极空间电荷区(15)与埋入空间电荷区(16)分开的距离(d4)小于以下距离中的最小者的两倍:
-没有极化时,阳极空间电荷区(15)从掺杂区域(12)与有源层(5)之间的界面延伸进入所述有源层(5)中的距离(d2);以及
-没有极化时,埋入空间电荷区(16)从埋入区域(8)与有源层(5)之间的界面延伸进入所述有源层(5)中的距离(d3)。
7.根据前述权利要求中的一项所述的阵列,其中,对通过第二类型的掺杂区域(12)所界定的上层(6)的阴极区域(13)利用第一类型的掺杂剂进行掺杂。
8.根据前述权利要求中的一项所述的阵列,其中,第二类型的掺杂区域(12)从上层(6)延伸进入所述有源层(5)中,进入的深度小于所述有源层(5)的厚度的四分之一。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于新成像技术公司,未经新成像技术公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201680061522.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 同类专利
- 专利分类
H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的