[发明专利]用于采样的装置和方法在审
申请号: | 201680057175.3 | 申请日: | 2016-09-30 |
公开(公告)号: | CN108139303A | 公开(公告)日: | 2018-06-08 |
发明(设计)人: | O·柯比;A·克拉克;B·A·C·格兰特 | 申请(专利权)人: | 史密斯探测-沃特福特有限公司 |
主分类号: | G01N1/22 | 分类号: | G01N1/22;G01N1/38;G01N1/44;H01J49/00 |
代理公司: | 北京润平知识产权代理有限公司 11283 | 代理人: | 王丽娜;邝圆晖 |
地址: | 英国赫*** | 国省代码: | 英国;GB |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 探测器入口 混合区域 进气口 导管 气态流体 加热器 分析装置 采样 运送 样品提供 气溶胶 吸入 加热 探测 | ||
1.一种探测器入口,该探测器入口用于将样品提供给用于探测气溶胶的分析装置,所述探测器入口包括:
进气口,该进气口用于吸入待由所述分析装置采样的气态流体流;
混合区域;
第一导管,该第一导管用于将所述气态流体流的第一部分从所述进气口运送到所述混合区域;
第二导管,该第二导管用于将所述气态流体流的第二部分从所述进气口运送到所述混合区域;和
加热器,该加热器设置为比所述第二部分更多地加热所述第一部分,
并且其中,所述探测器入口设置为在所述混合区域中将所述第一部分与所述第二部分结合。
2.根据权利要求1所述的探测器入口,所述探测器入口包括过滤器,所述过滤器设置为从所述气态流体流的第一部分去除至少一些颗粒物。
3.根据权利要求1或2所述的探测器入口,其中,所述加热器设置为将所述气态流体流的第一部分加热到选定的温度以蒸发所述混合区域中的所述气态流体流的第二部分中携带的气溶胶。
4.根据权利要求1至3中任一项所述的探测器入口,其中,所述加热器设置为使得所述混合区域中的所述气态流体的温度在100℃至400℃的范围内。
5.根据前述权利要求中任一项所述的探测器入口,其中,设置采样入口以从所述混合区域收集蒸汽的样品。
6.根据权利要求5所述的探测器入口,其中,所述第一导管和所述第二导管中的至少一个设置为提供围绕所述混合区域的气态流体的循环流。
7.根据权利要求5或6所述的探测器入口,其中,所述第一导管和所述第二导管中的所述至少一个设置为使得所述循环流环绕所述采样入口。
8.根据前述权利要求中任一项所述的探测器入口,其中,所述加热器设置在所述第一导管中,例如其中所述第一导管的表面承载所述加热器,例如其中所述加热器包括薄膜加热器。
9.根据权利要求2至8中任一项所述的探测器入口,其中,所述过滤器包括设置为禁止尺寸大于0.5微米的颗粒物通过的网。
10.根据前述权利要求中任一项所述的探测器入口,所述探测器入口包括控制器,所述控制器配置为基于探测到的吸入的所述气态流体流的温度来控制所述加热器。
11.根据前述权利要求中任一项所述的探测器入口,所述探测器入口还包括采样入口,所述采样入口设置为从所述混合区域中的采样容积收集所述气态流体的样品并将所述样品提供给所述分析装置,其中所述采样容积中的所述气态流体包括颗粒物。
12.根据权利要求11所述的探测器入口,其中,所述混合区域设置在集气室中,所述集气室包括所述采样容积和所述采样入口;并且所述探测器入口包括流体引导部,所述流体引导部设置为产生围绕着环绕所述采样入口的所述集气室所述气态流体的循环流,从而改变由所述流体携带的所述颗粒物的空间分布,以增加携带的所述颗粒物的通过所述采样入口而不进入所述采样容积的相对比例。
13.根据权利要求12所述的探测器入口,其中,所述流体引导部包括所述集气室的弯曲壁,所述弯曲壁设置为使得所述循环流跟随所述集气室的所述弯曲壁的内表面。
14.根据权利要求13所述的探测器入口,其中,改变由所述流携带的颗粒物的空间分布包括根据离所述集气室的弯曲壁的距离而减小所述颗粒物的相对比例。
15.根据权利要求12至14中任一项所述的探测器入口,其中,所述集气室设置为沿流动方向引导所述气态流体流,并且所述集气室设置为使得所述循环流围绕与所述流动方向对齐的旋转轴线循环。
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