[发明专利]路径长度校准系统和方法

权利要求书

1.一种用于测量样本的光学特性的设备，所述设备包括：

a.第一基座表面，所述第一基座表面耦合到i)摆臂和ii)光源；

b.磁体；

c.底板；

d.机械止动器，所述机械止动器耦合到所述底板；

e.第二基座表面，所述第二基座表面以机械方式耦合到所述底板且被配置成接收液体样本，所述第二基座表面耦合到光谱仪，其中所述第二基座表面能够进一步操作以便按可变距离(P)调整所述第一基座表面与所述第二基座表面之间的分离度来将所述液体样本拉动到立柱中以便通过表面张力容留或在光学分析期间挤压所述样本，由此提供用于光度或光谱测量的光学路径；

f.磁通量传感器，所述磁通量传感器被定位成使得当所述第一基座表面与所述第二基座表面物理接触时，所述磁体的北磁通量场和南磁通量场的零面在所述磁通量传感器上居中；

g.处理器，所述处理器适于通过利用从所述磁体发射且由所述磁通量传感器检测到的阈值磁通量场来校准最小光程长度的点；

h.模数转换器，所述模数转换器被配置成用于数字化来自所述磁通量传感器的信号。

2.根据权利要求1所述的设备，其中所述第一基座表面耦合到第一光导管。

3.根据权利要求2所述的设备，其中所述第二基座表面耦合到第二光导管。

4.根据权利要求3所述的设备，其中所述第一光导管和所述第二光导管包括选自以下中的至少一种光纤：单模光纤、保偏光纤和多模光纤。

5.根据权利要求3所述的设备，进一步包含被配置成准许所述第二光导管平行于所述第二光导管的纵向轴线的平移移动的托架。

6.根据权利要求5所述的设备，其中所述托架进一步包括位置传感器，所述位置传感器提供反馈以便实现所述第一基座表面与所述第二基座表面之间的精确位移，以便实现所述可变距离(P)。

7.根据权利要求6所述的设备，进一步包括平移控制系统和耦合到所述第二光导管的光遮断器装置，其中当所述平移控制系统在启动之后或在由所述光遮断器装置遮断之后即刻初始化时，所述位置传感器进一步建立参考位置。

8.根据权利要求3所述的设备，其中所述第一光导管包含透射端且所述第二光导管包括接收端，其中所述第一光导管的所述透射端和所述第二光导管的所述接收端提供用于光度或光谱测量的所述光学路径。

9.根据权利要求3所述的设备，其中所述第一光导管包含接收端且所述第二光导管包括透射端，其中所述第一光导管的所述接收端和所述第二光导管的所述透射端提供用于光度或光谱测量的所述光学路径。

10.根据权利要求1所述的设备，其中所述磁通量传感器是线性霍尔效应传感器。

11.根据权利要求1所述的设备，其中所述磁通量传感器是巨磁阻(GMR)传感器。

12.根据权利要求1所述的设备，其中所述磁体耦合到所述摆臂，且所述磁通量传感器耦合到所述底板。

13.根据权利要求1所述的设备，其中所述磁通量传感器耦合到所述摆臂，且所述磁体耦合到所述底板。

14.根据权利要求1至13中任一项所述的设备，其中所述设备针对任何给定光程长度量测处于介于0.005个吸光度单位与2.0个吸光度单位之间的范围内的吸光度。

15.根据权利要求1至13中任一项所述的设备，其中所述光源被配置成提供处于介于190nm与850nm之间的范围内的光波长。