[发明专利]利用光热斑点检测感应靶标

权利要求书

1.一种利用光热斑点检测感应靶标的设备，其包括：

配置为在多个抽运调制频率下进行调制和照射靶标样本的抽运光源；

设置为从所述靶标样本产生斑点图案的探针光源；和

配置为检测与所述多个抽运调制频率下的抽运调制具有相关性的斑点图案的一个或多个斑点叶的位置和强度的至少一项的改变的感应器。

2.如权利要求1所述的设备，其中所述抽运调制所在的时标短于所述斑点图案的模糊的时标，并且其中所述感应器被配置为检测短于所述斑点图案的模糊的时标的时标上的位置和强度中至少一项的改变。

3.如权利要求1或2所述的设备，还包括相关器，其被配置为执行频率分析来测定所述一个或多个斑点叶的位置和强度中至少一项的改变与所述多个抽运调制频率下的抽运调制频率的相关性。

4.如权利要求1所述的设备，还包括处理器，其被配置为基于所述一个或多个斑点叶的位置的改变而测定所述靶标样本的吸收光谱。

5.如权利要求1所述的设备，还包括处理器，其被配置为基于所述一个或多个斑点叶的位置和强度中至少一项的改变而鉴定所述靶标样本的材料种类。

6.如权利要求5所述的设备，其中所述处理器还被配置为鉴定独立于所述靶标样本的表面材料的所述材料种类。

7.如权利要求1所述的设备，还包括处理器，其被配置为基于所述一个或多个斑点叶的位置和强度中至少一项的改变而测定所述靶标样本的热扩散率。

8.如权利要求1所述的设备，其中相比于所述靶标样本的热扩散时间，所述抽运调制的至少一个工作周期是短的。

9.如权利要求1所述的设备，其中所述抽运调制是光振幅调制。

10.如权利要求1所述的设备，其中所述抽运调制为波长调制或光偏振调制。

11.如权利要求1所述的设备，其中所述抽运光源还被配置为以多个抽运光波长同时照射所述靶标样本。

12.如权利要求11所述的设备，其中所述抽运光源被配置为在所述靶标样本的不同位置、以所述多个抽运光波长照射所述靶标样本。

13.如权利要求11或12所述的设备，其中所述抽运光源还被配置为在分别的、互相不同的光振幅调制频率调制所述多个抽运光波长的光振幅，以及在所述靶标样本至少部分重叠地、以所述多个抽运光波长照射所述靶标样本。

14.如权利要求1所述的设备，其中所述抽运光源被配置为以固定波长的抽运光照射所述靶标样本，并且所述抽运调制是光振幅调制，所述抽运光源还被配置为在多个振幅调制频率输出光，并且其中所述感应器被配置为检测与所述光振幅调制的多个频率具有相关性的一个或多个斑点叶的位置和强度中至少一项的改变。

15.如权利要求1所述的设备，其中所述抽运光源的抽运调制具有正弦曲线形或矩形的时间谱。

16.如权利要求1所述的设备，其中所述探针光源还被配置为从所述靶标样本的给定区域产生斑点图案，并且其中所述感应器还被配置为检测所述靶标样本的所述给定区域的不同位置处的一个或多个斑点叶的位置和强度中至少一项的改变。

17.如权利要求1所述的设备，其中所述探针光源还被配置为从所述靶标样本内部的位置产生所述斑点图案，探针光穿过所述靶标样本的外表面至所述靶标样本的内部的所述位置。