[发明专利]稻谷脱壳机的脱壳辊的防烧损装置有效

专利信息
申请号: 201680045868.0 申请日: 2016-07-22
公开(公告)号: CN107847939B 公开(公告)日: 2020-02-04
发明(设计)人: 赖冈诚治;梶山慎介;原本晃郎 申请(专利权)人: 株式会社佐竹
主分类号: B02B3/04 分类号: B02B3/04;B02B7/00
代理公司: 11243 北京银龙知识产权代理有限公司 代理人: 金成哲;王莉莉
地址: 日本*** 国省代码: 日本;JP
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摘要:
搜索关键词: 稻谷 脱壳 防烧损 装置
【说明书】:

本发明的提高耐久性并适于实际使用的脱壳辊的防烧损装置,具备:用于临时存储原料的原料箱;探测上述原料箱的原料的下限值的下限传感器;由一对脱壳辊构成的脱壳部;探测上述脱壳部或比上述脱壳部靠后的工序的谷粒流的米流探测传感器;以及控制部,在上述下限传感器探测到无谷粒的信号且上述米流探测传感器探测到有谷粒流的信号时,判断为稻谷脱壳作业中的原料中断,并使在上述脱壳部的稻谷脱壳作业停止。

技术领域

本发明涉及用于防止设于稻谷脱壳机的一对脱壳辊的烧损的装置。

背景技术

以往,这种装置在一对脱壳辊的上部设有原料箱和光学检测该原料箱内的谷物的有无的传感器。而且,若该传感器检测到原料箱内的谷物没有,则控制部判断为稻谷脱壳作业结束,从而将一对脱壳辊展开至非接触位置,进行实现防止脱壳辊的烧损、变形的控制。

但是,上述传感器由于是光学检测原料箱内的谷物的有无的类型,因此,存在以下情况:由于传感器的镜头面的污浊、尘土向传感器的附着等,尽管在原料箱内没有谷物,也发出具有原料的输出信号。这种不良情况不限于上述光学传感器,即使是静电电容式的传感器、超声波式的传感器,也存在因灰尘向信号检测部位的附着等而产生误动作的情况。对于这种误动作,控制部判断为稻谷脱壳作业还在继续,一对脱壳辊在空的状态(无原料稻谷的供给的状态)下接触并且旋转,因此存在脱壳辊变形、烧损的问题,非常危险。

为了应付上述问题,专利文献1记载的发明采取了以下技术方案,该方案具备:对谷物进行脱壳处理的左右一对脱壳辊;设于该脱壳辊的下方的由感应脱壳辊的滑动摩擦(摺出し)的有无的压敏元件构成的滑动摩擦检测传感器;以及基于该传感器的检测输出,在脱壳作业结束后,将上述左右一对脱壳辊展开至不接触的脱壳辊展开机构。由此,通过检测一对脱壳辊的滑动摩擦的有无,从而可靠地检测稻谷脱壳作业的结束,在稻谷脱壳作业结束时,展开脱壳辊,成为非接触状态,具有能够可靠地进行防止脱壳辊的烧损、变形的作用、效果。

但是,专利文献1记载的发明的由压敏元件构成的滑动摩擦检测传感器设于脱壳辊的正下方,因此含有稻谷壳的脱壳下落米直接碰撞传感器,因而存在提前磨损的问题,在耐久性方面具有不适于实际使用的问题。即,这是因为,稻谷脱壳时产生的稻谷壳是含有糙米的壳,成分是食物纤维,但是是含有作为玻璃的原料的硅酸的硬质物质。

现有技术文献

专利文献

专利文献1:日本特开平1-151948号公报

发明内容

发明所要解决的课题

鉴于上述问题点,本发明的目的在于提供提高耐久性并适于实际使用的脱壳辊的防烧损装置。

用于解决课题的方案

本发明的稻谷脱壳机的脱壳辊的防烧损装置的特征在于,具备:用于临时存储原料的原料箱;探测该原料箱的原料的下限值的下限传感器;由一对脱壳辊构成的脱壳部;探测该脱壳部或比脱壳部靠后的工序的谷粒流的米流探测传感器;以及

控制部,在上述下限传感器探测到无谷粒的信号且上述米流探测传感器探测到有谷粒流的信号时,判断为稻谷脱壳作业中的原料中断,并使在上述脱壳部的稻谷脱壳作业停止。

另外,还可以是,将上述米流探测传感器设于混合米排出流路,该混合米排出流路连接设于上述脱壳部的后续工序的风选部与混合米扬谷机之间。

而且,上述米流探测传感器包括:承接在上述混合米排出流路流下时的谷粒的闸门板;在上述混合米排出流路的外侧探测该闸门板转动时的位移的位移探测体;以及在上述混合米排出流路的外侧探测该位移探测体的位移的传感器主体。

而且,还可以是,上述米流探测传感器是固定设于上述脱壳辊旋转轴的轴承的振动探测传感器。

发明效果

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