[发明专利]改进型拉曼光谱系统

权利要求书

1.一种用于分析来自由电磁辐射照射的物体(O)的非弹性散射电磁辐射的系统(10)，包括：

电磁辐射源(11)，用于向所述物体发射电磁辐射；

至少一个检测器(15，121)，用于检测来自所述物体的所述非弹性散射电磁辐射的至少部分，所述检测器被布置为在光谱仪单元(12)中，所述光谱仪单元用于检测来自所述物体的非弹性散射电磁辐射的波长谱；

可调透镜组件(13)，包括设置在所述电磁辐射源(11)与所述物体之间的波束路径中的可调透镜(13)，并被布置为将从所述电磁辐射源(11)发射的电磁辐射波束投射到所述物体的区域，并接收和校准来自所述物体的所述非弹性散射电磁辐射；以及

控制单元(14)，连接到所述可调透镜(13)，并被布置为通过向所述可调透镜组件(13)施加第一设置控制操作信号来控制所述可调透镜组件的光学特性操作设置，所述第一设置控制操作信号包括与可实现的第一焦距、第一波束形状和/或第一波束位置有关的信息，

所述控制单元(14)还连接到所述至少一个检测器(15，121)，用于在使用所述可调透镜组件(13)的所述第一设置时接收至少来自所述物体的所述非弹性散射电磁辐射的第一光谱，其中所述控制单元被布置为：

通过将所述第一光谱的光学特性与参考进行比较来分析所检测到的非弹性散射电磁辐射的部分，并决定是否应当将所述第一设置改变到所述可调透镜组件的第二设置，以及在决定将所述第一设置改变到第二设置的情况下，所述控制单元还被配置成：

传送与所述第二设置相关联的第二设置控制操作信号至所述电可调透镜组件(13)，所述第二设置包括与所述可调透镜组件可实现的第二焦距、第二波束形状和/或第二波束位置有关的信息，其中改变到所述可调透镜组件(13)的第二设置的决定基于：

在所述第一光谱中存在高于预定阈值的第一荧光等级，由此所述第二设置与相比于所述第一设置的波束形状增大的波束形状相关联；

在所述第一光谱中存在低于所述预定等级的第二荧光等级，由此所述第二设置与相比于所述第一设置的波束形状减小的波束形状相关联，或

不存在荧光或存在低于所述第二等级的第三荧光等级，由此所述第二设置与第二焦距或第二波束位置相关联。

2.根据权利要求1所述的系统(10)，其中所述光学特性与以下中的至少一者相关联：强度、频率、能量谱、谱密度和/或时间变化。

3.根据权利要求1或2所述的系统(10)，其中所述光学特性与来自所述物体的非弹性散射电磁辐射的波长谱有关。

4.根据权利要求3所述的系统(10)，其中所述波长谱对应于与荧光相关联的波长范围。

5.根据权利要求1所述的系统(10)，其中所述第一和/或第二设置控制信号被包含在测试方案中，该测试方案分别指定多个预定特定焦距、波束形状或波束位置。

6.根据权利要求5所述的系统(10)，其中所述控制单元(4)还被配置成：

基于包含多个预定特定焦距的所述测试方案传送多个设置控制信号；以及针对每个传送的设置控制信号，

将波长谱存储在存储器中，产生多个存储的测试方案谱；

通过比较每个存储的测试方案谱与其他的存储的测试方案谱来分析所述多个存储的测试方案谱，以识别每个存储的测试方案谱之间的差异，以及在识别的差异超过参考阈值的情况下，所述控制单元(13)被布置为作出所述物体沿着所述物体的纵轴是非同质的决定。

7.根据权利要求5所述的系统(10)，其中所述控制单元(14)还被配置成：

基于包含针对特定波束位置的多个预定波束形状的所述测试方案传送多个设置控制信号；以及针对每个传送的设置控制信号，

将波长谱存储在存储器中，产生多个存储的测试方案谱；

通过比较每个存储的测试方案谱与其他的存储的测试方案谱来分析所述多个存储的测试方案谱，以识别每个存储的测试方案谱之间的差异，以及在识别的差异超过参考阈值的情况下，所述控制单元(13)被布置为作出所述物体沿着所述物体的横轴或沿着包含所述纵轴和所述横轴的平面的法线且在所述物体的纵向位置是非同质的决定。