[发明专利]制冷剂分析仪及其使用方法

权利要求书

1.一种利用制冷剂分析仪检测制冷剂中的杂质的方法，其中所述制冷剂分析仪包括第一感测装置，所述第一感测装置与第二感测装置流动连通，所述方法包括：

(a) 将所述制冷剂分为第一制冷剂流和第二制冷剂流，以及使所述第一制冷剂流传送穿过洗涤器而不使所述第二制冷剂流传送穿过所述洗涤器；

(b) 使所述第一制冷剂流传送穿过所述第一感测装置以便检测所述第一制冷剂流的制冷剂的第一特性；

(c) 使所述第二制冷剂流传送穿过所述第一感测装置以便检测所述第二制冷剂流的制冷剂的第一特性；以及

(d) 使所述第二制冷剂流传送穿过所述第二感测装置以便检测所述第二制冷剂流的制冷剂的第二特性。

2.如权利要求1所述的方法，其中所述第一特性包括光波长由所述制冷剂的吸收。

3.如权利要求1或2所述的方法，其中所述第一特性包括光波长由所述制冷剂的吸收，并且所述波长小于或等于15500纳米。

4.如权利要求1或2所述的方法，其中所述第二特性包括至少部分地基于所感测输出的所测量浓度水平。

5.如权利要求1或2所述的方法，其中所述第二特性包括至少部分地基于所感测输出的所测量浓度水平，并且所述所测量浓度水平大于或等于1000 ppmv。

6.如权利要求1或2所述的方法，其中所述洗涤器包括填充材料，所述填充材料包括氧化铝。

7.如权利要求1或2所述的方法，其还包括：

(c) 操作所述制冷剂分析仪以便提供是否确定污染物存在的指示。

8.一种制冷剂分析仪，其包括：

洗涤器；

第一感测装置，

流动调节器，所述流动调节器可操作地耦合到所述洗涤器和所述第一感测装置，其中所述流动调节器被配置来制造第一制冷剂流和第二制冷剂流；

其中所述第一感测装置被配置来至少确定所述第一制冷剂流和第二制冷剂流的制冷剂的第一特性；以及

第二感测装置，所述第二感测装置与所述第一感测装置流动连通，所述第二感测装置被配置来至少确定所述第二制冷剂流的制冷剂的第二特性；以及

其中，所述第一制冷剂流传送穿过所述洗涤器，而所述第二制冷剂流不传送穿过所述洗涤器。

9.如权利要求8所述的制冷剂分析仪，其中所述洗涤器包括填充材料，所述填充材料包括氧化铝。

10.如权利要求8或9所述的制冷剂分析仪，其中所述第一感测装置包括非色散红外传感器。

11.如权利要求8或9所述的制冷剂分析仪，其中所述第二感测装置包括电化学传感器。

12.如权利要求8或9所述的制冷剂分析仪，其还包括处理器，所述处理器与所述第一感测装置和所述第二感测装置连通。

13.如权利要求8或9所述的制冷剂分析仪，其中所述第一特性包括光波长由所述制冷剂的吸收。

14.如权利要求13所述的制冷剂分析仪，其中所述第一特性包括光波长由所述制冷剂的吸收，并且所述波长小于或等于15500纳米。

15.如权利要求8或9所述的制冷剂分析仪，其中所述第二特性包括至少部分地基于所感测输出的所测量浓度水平。

16.如权利要求15所述的制冷剂分析仪，其中所述所测量浓度水平大于或等于1000ppmv。

17.如权利要求8或9所述的制冷剂分析仪，其中所述洗涤器在流体方面在所述第一感测装置上游。

18.如权利要求8或9所述的制冷剂分析仪，其中所述洗涤器在流体方面在所述第二感测装置上游。