[发明专利]具有全视场探测器的扫描X射线装置有效

专利信息
申请号: 201680038573.0 申请日: 2016-06-24
公开(公告)号: CN107847199B 公开(公告)日: 2021-08-17
发明(设计)人: T·克勒;G·马滕斯;R·普罗克绍;H-I·马克;U·范斯特文达勒;F·普法伊费尔;P·诺埃尔;M·冯托伊芬巴赫 申请(专利权)人: 皇家飞利浦有限公司
主分类号: A61B6/00 分类号: A61B6/00
代理公司: 永新专利商标代理有限公司 72002 代理人: 孟杰雄;王英
地址: 荷兰艾*** 国省代码: 暂无信息
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摘要:
搜索关键词: 具有 视场 探测器 扫描 射线 装置
【权利要求书】:

1.一种X射线成像装置,包括:

-X射线源(XR),其用于发射X射线辐射的射束;

-X射线探测器(D),其被布置为跨用于容纳要被成像的目标的检查区域与所述X射线源相对;以及

-干涉仪(IF),其被布置在所述X射线源(XR)与所述X射线探测器之间,所述干涉仪在用于执行差分相衬成像和/或暗场成像的操作期间至少部分被布置在X射线辐射的所述射束中,所述干涉仪(IF)包括至少一个光栅(G1)以将所述X射线辐射调制为能由所述X射线探测器探测的干涉图案;

其中,所述至少一个光栅的覆盖范围小于所述X射线探测器的辐射敏感区的覆盖范围;并且

其中,所述装置被配置为在成像操作期间实现所述至少一个光栅在出于扫描目的的跨视场的扫描运动中相对于所述X射线探测器移动,同时所述X射线探测器相对于所述检查区域保持静止。

2.根据权利要求1所述的成像装置,其中,所述至少一个光栅(G1)的所述覆盖范围的一个维度实质上与所述X射线探测器(D)的所述覆盖范围的对应维度扩及同空间。

3.根据权利要求1所述的成像装置,其中,所述X射线探测器D是全视场X射线探测器。

4.根据权利要求1所述的成像装置,其中,所述装置被配置为实现所述至少一个光栅(G1)的不同于所述扫描运动的另一运动。

5.根据权利要求1所述的成像装置,被配置为在所述成像操作期间实现所述目标相对于所述至少一个光栅(G1)或所述X射线探测器(D)的运动。

6.根据权利要求1所述的成像装置,其中,所述干涉仪(IF)包括另外的第二光栅(G2),所述第二光栅同样能在所述扫描运动中移动,其中,至少两个光栅(G1、G2)在所述扫描运动期间相对于彼此保持固定空间关系。

7.根据权利要求6所述的成像装置,其中,所述两个光栅(G1、G2)被布置在所述检查区域的彼此相对侧上。

8.根据权利要求6所述的成像装置,其中,所述两个光栅(G1、G2)被布置在所述检查区域的彼此相同侧上。

9.根据权利要求1-8中的任一项所述的成像装置,被配置用于沿着直线路径执行所述扫描运动。

10.根据权利要求1-8中的任一项所述的成像装置,被配置用于沿着弯曲路径执行所述扫描运动。

11.根据权利要求1-8中的任一项所述的成像装置,其中,所述X射线探测器具有单片结构。

12.根据权利要求1-8中的任一项所述的成像装置,被配置为在所述成像操作期间实现所述X射线源沿着基本上平行于所述扫描运动的路径移动。

13.根据权利要求12所述的成像装置,还包括多个源光栅,所述多个源光栅基本上平行于所述X射线源能沿着其移动的所述路径被串行布置。

14.根据权利要求1-8中的任一项所述的成像装置,其中,所述扫描运动是垂直的或水平的。

15.根据权利要求1-8中的任一项所述的成像装置,其中,所述至少一个光栅(G1)的栅栏在基本上平行于所述扫描运动或者基本上垂直于所述运动的方向上延伸。

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