[发明专利]用于位置精确地装配电路承载件的方法有效
| 申请号: | 201680033511.0 | 申请日: | 2016-06-02 |
| 公开(公告)号: | CN107873140B | 公开(公告)日: | 2020-12-08 |
| 发明(设计)人: | J.佐恩;D.基伊斯林格 | 申请(专利权)人: | ZKW集团有限责任公司 |
| 主分类号: | H05K3/30 | 分类号: | H05K3/30;H05K13/04;H05K13/08 |
| 代理公司: | 中国专利代理(香港)有限公司 72001 | 代理人: | 姬亚东;刘春元 |
| 地址: | 奥地利韦*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 用于 位置 精确 装配 电路 承载 方法 | ||
1.一种用于给电路承载件(2)位置精确地装配至少一个电子部件(1)的方法,所述电子部件包括至少两个可彼此分开操控的发光面(3a,3b,3c),借助于所述电路承载件检测和通过计算修正量(k)补偿所述发光面(3a,3b,3c)在所述电子部件上的位置偏差,所述方法具有如下步骤:
a)在参照参考点的条件下,光学检测所述电子部件(1)的至少两个发光面(3a,3b,3c)的实际位置;
b)根据所述电子部件(1)的至少两个发光面(3a,3b,3c)的实际位置计算至少一个表征所述发光面(3a,3b,3c)的几何地点的实际变量(Sist);
c)将所述至少一个实际变量(Sist)与至少一个理论变量(Ssoll)进行比较,以计算至少一个修正量(k),其中所述理论变量(Ssoll)为与所述发光面(3a,3b,3c)关于所述参考点的位置和取向有关的预先定义的值;
d)根据所述至少一个修正量(k),给所述电路承载件(2)装配至少一个电子部件(1)。
2.根据权利要求1所述的方法,
其特征在于,
将所述实际变量(Sist)和所述理论变量(Ssoll)输送给数字计算单元或通过其来检测,在所述数字计算单元中计算所述修正量(k),其中将所述修正量(k)作为数字信息信号传递给用于根据步骤d)装配的装配装置。
3.根据权利要求1或2所述的方法,
其特征在于,
所述修正量(k)包括至少一个矢量,其中所述矢量的方向平行于所述电路承载件(2)的装配面取向。
4.根据权利要求3所述的方法,
其特征在于,
所述修正量(k)还包括用于围绕转动轴线(z)转动的角度说明,其中所述转动轴线正交于所述电路承载件(2)的装配面取向。
5.根据权利要求1或2所述的方法,
其特征在于,
所述至少一个实际变量(Sist)包括表征所述发光面(3a,3b,3c)的可见棱边的走向的信息。
6.根据权利要求1或2所述的方法,
其特征在于,
所述至少一个实际变量(Sist)包括表征所述发光面(3a,3b,3c)的可见棱边的倾斜的信息。
7.根据权利要求1或2所述的方法,
其特征在于,
所述至少一个实际变量(Sist)包括表征所述发光面(3a,3b,3c)的虚拟重心(Sg)的信息,其中所述虚拟重心(Sg)通过在考虑各个发光面(3a,3b,3c)的实际位置的条件下确定其几何重心(S1,S2,S3)来确定。
8.根据权利要求1或2所述的方法,
其特征在于,
所述至少一个实际变量(Sist)包括表征虚构矩形面的尺寸和位置的信息,其中所述虚构矩形(R)的尺寸以及位置和取向被选择成,使得面的覆盖和大小关系是优化的。
9.根据权利要求1或2所述的方法,
其特征在于,
所述理论变量(Ssoll)包括关于参考点的位置说明,其中所述参考点布置在所述电子部件(1)的电路承载件(2)或所述电子部件(1)上。
10.根据权利要求1或2所述的方法,
其特征在于,
所述发光面(3a,3b,3c)彼此间隔开。
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