[发明专利]用于在无线信号环境中测试射频(RF)数据包信号收发器的方法

说明书

本发明提供了一种用于在来自剩余待测设备(DUT)的信号干扰减少的情况下测试一组射频(RF)数据包信号收发器DUT中的一个或多个RF数据包信号收发器DUT的方法。测试器广播包含关于上行链路信号功率特性的功率控制指令的信号，以用于与测试器进行通信。例如，对于LTE 3GPP标准，此类特性可包括功率斜坡步长、前导码初始接收目标功率、或从DUT发射的上行链路信号的前导码传输的最大数量。在启动测试器和一个或多个DUT之间的通信之后，该测试器广播包含功率控制指令的信号，以指示剩余DUT发射具有不同上行链路信号功率特性的任何未来信号。对于该LTE 3GPP标准，此类不同特性可包括减小的功率斜坡步长、减小的前导码初始接收目标功率、或上行链路信号的前导码传输的减小的最大数量。

背景技术

本发明涉及测试多个射频(RF)数据包信号收发器待测设备(DUT)中的一个或多个RF数据包信号收发器待测设备DUT，并且具体地涉及在无线信号环境中在来自剩余DUT的信号干扰减少的情况下测试一个或多个此类DUT。

当今许多电子设备将无线信号技术用于连接和通信目的。由于无线设备传输和接收电磁能并且由于两个或更多个无线设备因其信号频率和功率谱密度而可能干扰彼此的操作，因此这些设备及其无线信号技术必须遵循各种无线信号技术标准规范。

在设计此类无线设备时，工程师需要格外小心，以确保此类设备将符合或超过基于它们包括的无线信号技术规定的标准的规范。此外，当这些设备随后被大量制造时，要对其进行测试，以确保制造缺陷将不会导致不正确的操作，包括它们对基于所包括的无线信号技术标准的规范的遵守性。

此类设备的一个普遍和广泛使用的示例为符合用于语音和数据通信的第三代合作伙伴计划(3GPP)长期演进(LTE)标准的移动或蜂窝电话系统(例如，发送和接收文本消息、互联网浏览等)。在进行最终装运和销售之前，此类设备被大量生产并且在制造期间以及在实际制造过程之后单独进行测试。作为此类测试的一部分，非常期望和有利的是以此类方式来测试此类LTE设备，以便模拟正常操作期间的行为，即通过在它们本身和一个或多个网络接入点(例如，通常被称为基站或eNodeB)之间同时操作多个LTE设备。在此类条件下，通常存在若干个LTE设备(例如，通常被称为用户设备或UE)正在进行操作。在正常情况下，多个设备处于连接状态中，即与接入点进行活动通信，而多个其他设备处于空闲状态中，即当前不与接入点进行活动通信。另外，从空闲的或未连接的设备开始周期性地进行传输，以试图启动与接入点的通信。由于设备用户尝试经由接入点来启动通信，或者出于设备和网络之间的各种形式的数据更新的目的，此类传输可随机进行。(LTE标准将设备和接入点之间的此类交互定义为随机访问信道(RACH)交互的部分，并且指定与此类交互相关的信号参数。)

当同时测试多个LTE设备时，测试系统必须模拟与在接入点的适用标准下的性能一致的行为，因为其控制与设备的交互以及对设备的响应。例如，在此类测试的过程中，出于测量一个或多个特定信号或数据特性的目的，测试系统可指示一组连接的设备中的设备进行传输。然而，如果空闲设备中的一个或多个设备同时启动RACH传输，则此类发射可能干扰对信号特性的此类测量。

在LTE标准下不存在用于防止或减轻在活动的或连接的设备和不活动的或空闲的设备之间的此类干扰情况的固有机制。虽然此类设备中的信号干扰的此类可能性可通过限制同时被测试的设备的数量来进行限制，但这会导致较长的测试时间以及降低的测试效率。

发明内容