[发明专利]使用离子过滤的质量分析方法

说明书

公开一种质谱分析方法，包括通过检测器(6)检测通过质量过滤器(4)发射的离子；在电压转变周期期间改变施加于该质量过滤器(4)的RF和/或DC电压以便改变能够通过该质量过滤器(4)发射的质荷比；在该电压转变周期期间防止离子到达该检测器；以及在该电压转变周期之后允许将离子发射到该检测器(6)。

相关申请的交叉引用

本申请要求2015年5月29日提交的英国专利申请第1509244.8号的优先权和权益，所述专利申请的全部内容以引入的方式并入本文中。

技术领域

本发明大体上涉及质谱仪且特定来说涉及通过检测由质量过滤器发射的离子而分析离子的质谱仪。

背景技术

已知使用四极棒组以根据离子的质荷比而过滤离子。RF和DC电压的不同组合可用于选择由所述四极发射的质荷比。对于第一周期，RF和DC电压通常为固定的，使得所述四极选择性地仅发射具有所关注的第一质荷比的离子。RF和DC电压接着步进，使得在第二周期中所述四极选择性地仅发射具有所关注的第二质荷比的离子。举例来说，此类方法可用以在单离子记录(SIR)、单反应监测(SRM)和多反应监测(MRM)实验中选择离子。

当以此方式使用四极时，在第一周期期间发射的离子电流可极大，而在第二周期期间发射的离子电流可相对较小。第一较大离子电流可使得检测器基线位移。举例来说，如果将光电倍增管用作检测器，则较大离子信号可使得检测器的光阴极变得经激发且在已去除刺激之后发射电子达相当大的时间周期。此类基线位移可引起遵循高强度信道的信道的测量误差。

已知在分析获取之前测量检测器的基线电平。可接着从在分析运行期间测量的离子信号减去所述基线电平。然而，此类方法不能够考虑到可在已检测到高离子电流之后发生的基线电平的位移。

许多四极电压驱动电路设计使得DC电压分量滞后于RF电压分量。当四极经步进以使得所发射的离子的质荷比随时间的推移而增大时，DC电压分量暂时低于RF电压分量。此暂时允许由所述四极发射具有广泛质荷比范围的离子。其它电压驱动电路设计使得DC电压分量领先于RF电压分量。当四极经步进以使得所发射的离子的质荷比随时间的推移而减小时，所述四极可去分辨。同样，此导致离子的相对较大脉冲暂时通过所述四极发射。离子脉冲的振幅取决于经测量分析物附近的离子物种的数目和其丰度。因此，将了解，四极的步进操作有时可导致对例如分析质量过滤器或检测器的下游装置造成冲击的离子的相对较大脉冲，每当所述四极步进时。如果离子的相对较大脉冲到达此下游装置，则可具有有害的结果。

采用四极质量过滤器的质谱仪通常仅在四极过滤动作处于稳定状态下时，即在RF:DC比率大体上固定时收集数据。举例来说，如果分析物A和B待分析，则系统将改变所需RF和DC电压分量以便过滤除了具有对应于分析物A的质荷比的质荷比的离子之外的所有离子；将接着等待四极的电极上的电压稳定以便促进合适的质量分辨率；且将接着测量和记录一时间周期内的离子电流。系统将接着在编程分析物B的接下来的RF和DC值之前停止记录离子电流；且将在记录分析物B的离子电流之前等待四极的电极上的电压稳定。接着将离子电流存储于单独信道中以便允许进一步数据处理。因此，当RF和DC电压不稳定(即在步进值之间)时并不记录或显示离子电流，因为此数据在分析上并不适用。

因此，由暂时的四极去分辨率引起的离子脉冲的有害本质变得未被发现。然而，其对数据质量的可能效应为真实的，在测量离子电流时引起检测器基线的延长到扫描或停留周期中的位移且因此可引起分析物的误定量。

需要提供改进型质谱仪和改进型质谱分析方法。

发明内容

根据第一方面，本发明提供一种质谱分析方法，其包括：

将RF和DC电压施加于质量过滤器的电极使得所述质量过滤器能够大体上仅发射具有选定质荷比或选定质荷比范围的离子；

通过检测器检测通过所述质量过滤器发射的所述离子；