[发明专利]解剖配准探针、系统及方法有效
| 申请号： | 201680026997.5 | 申请日： | 2016-03-25 |
| 公开（公告）号： | CN107920860B | 公开（公告）日： | 2022-02-18 |
| 发明（设计）人： | K·R·贝伦德;J·怀特 | 申请（专利权）人： | 拜欧米特制造有限责任公司 |
| 主分类号： | A61B34/20 | 分类号： | A61B34/20 |
| 代理公司： | 永新专利商标代理有限公司 72002 | 代理人： | 王永建 |
| 地址： | 美国印*** | 国省代码： | 暂无信息 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 解剖 探针 系统 方法 | ||
1.一种收集用于具有几何形状的所选解剖区域的物理空间数据的装置，包括：
配准探针，所述配准探针具有远端部分、中间部分、近端部分以及由所述中间部分限定的纵向轴线；
功能性接合前端，所述功能性接合前端联接至所述远端部分的远侧端部，其中所述功能性接合前端包括与所选解剖区域的几何形状互补的接触表面几何形状；
定位器，所述定位器联接至所述近端部分；
其中，在操作中，通过使所述功能性接合前端的接触表面几何形状与所选解剖区域配合，所述功能性接合前端促进对所述所选解剖区域的尺寸、位置和定向中的至少一种进行配准。
2.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述功能性接合前端的所述接触表面几何形状包括凹形表面。
3.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述功能性接合前端的所述接触表面几何形状包括凸形表面。
4.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述功能性接合前端的所述接触表面几何形状包括平面表面。
5.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述功能性接合前端包括具有点阵列的前端。
6.根据权利要求5所述的装置，其特征在于，所述点阵列被外接圆限定。
7.根据权利要求6所述的装置，其特征在于，所述外接圆具有介于约0.5英寸至约3英寸之间的周长。
8.根据权利要求1至7中任一项所述的装置，其特征在于，所述配准探针沿着所述纵向轴线具有介于约100mm至约400mm之间的总长度。
9.根据权利要求1至7中任一项所述的装置，其特征在于，所述远端部分和所述近端部分中的一个的至少一部分是直的，使得所述至少一部分沿着所述纵向轴线延伸。
10.根据权利要求1至7中任一项所述的装置，其特征在于，所述远端部分和所述近端部分中的一个的至少一部分是相对于所述纵向轴线弯曲的。
11.根据权利要求1至7中任一项所述的装置，其特征在于，所述远端部分和所述近端部分中的一个的至少一部分是相对于所述纵向轴线弯折的。
12.根据权利要求1至7中任一项所述的装置，其特征在于，所述远端部分和所述近端部分中的一个的至少一部分相对于所述纵向轴线偏移。
13.根据权利要求1至7中任一项所述的装置，其特征在于，所述功能性接合前端可移除地联接至所述远端部分的远侧端部。
14.根据权利要求1所述的装置，其特征在于，所述功能性接合前端相对于所述配准探针固定。
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