[发明专利]受光发光元件模块以及传感器装置有效
| 申请号: | 201680024021.4 | 申请日: | 2016-04-27 |
| 公开(公告)号: | CN107534071B | 公开(公告)日: | 2020-07-31 |
| 发明(设计)人: | 藤本直树 | 申请(专利权)人: | 京瓷株式会社 |
| 主分类号: | H01L31/12 | 分类号: | H01L31/12 |
| 代理公司: | 中科专利商标代理有限责任公司 11021 | 代理人: | 刘文海 |
| 地址: | 日本*** | 国省代码: | 暂无信息 |
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| 摘要: | |||
| 搜索关键词: | 发光 元件 模块 以及 传感器 装置 | ||
本发明提供受光发光元件模块以及传感器装置。本发明的一实施方式所涉及的受光发光元件模块(1)具备:配线基板(2);配置于配线基板(2)上的发光元件(3)以及受光元件(4);透镜构件(5),其具有对从发光元件(3)以及受光元件(4)分离而位于上方的透镜部(9)进行支承的支承部(10)、以及配设于支承部(10)的下表面且前端与配线基板(2)的上表面相接的支柱(11)。
技术领域
本发明涉及受光发光元件模块以及传感器装置。
背景技术
以往,提出有如下所述的传感器装置:从发光元件向被照射物照射光,利用受光元件对来自被照射物的反射光进行受光,由此对被照射物的特性进行检测。
例如,在日本特开2006-203111号公报中,提出有如下所述的传感器装置:在基板上安装有受光元件以及发光元件,在该受光元件以及发光元件的上方配置有透镜。
发明内容
本发明的一实施方式所涉及的受光发光元件模块具备:配线基板;发光元件以及受光元件,它们配设于所述配线基板上;以及透镜构件,其具有支承部和支柱,所述支承部对从所述发光元件以及所述受光元件分离而位于上方的透镜部进行支承,所述支柱配设于所述支承部的下表面且前端与所述配线基板的上表面相接。
本发明的一实施方式所涉及的传感器装置具备:上述的受光发光元件模块;以及控制用电路,其与所述受光发光元件模块电连接,且对所述受光发光元件模块进行控制,从所述发光元件向被照射物照射光,根据与从该被照射物反射的反射光对应地输出的来自所述受光元件的输出值检测所述被照射物。
附图说明
图1的(a)是示出本发明的一实施方式所涉及的受光发光元件模块的概要剖视图。图1的(b)是示出本发明的一实施方式所涉及的受光发光元件模块的概要俯视图。需要说明的是,图1的(a)的剖视图是沿着图1的(b)所示的单点划线而将受光发光元件模块剖开时的剖视图。
图2的(a)是构成图1所示的受光发光元件模块的发光元件的剖视图。图2的(b)是构成图1所示的受光发光元件模块的受光元件的剖视图。
图3是按照构成要素将本发明的一实施方式所涉及的受光发光元件模块分解的立体图。
图4是示意性地示出本发明的一实施方式所涉及的传感器装置的剖视图。
具体实施方式
(受光发光元件模块)
以下,参照附图对本发明的受光发光元件模块的实施方式的一例进行说明。需要说明的是,本发明并不局限于以下的实施方式。
另外,在本发明的受光发光元件模块中,任意的方向均可以被用作为上方或者下方,但在本说明书中,为了便于理解,定义正交坐标系(X,Y,Z),并且将Z轴方向的正侧作为上方,使用上表面或者下表面等用语。
如图1所示,受光发光元件模块1具有配线基板2、配设于配线基板2上的发光元件3以及受光元件4。在受光发光元件模块1中,能够从发光元件3向被照射物照射光,并且利用受光元件4对从被照射物反射的反射光进行受光。其结果是,受光发光元件模块1能够检测被照射物的表面状态等。
受光发光元件模块1例如能够搭载于复印机或者打印机等图像形成装置,并对调色剂、介质等被照射物的位置信息、距离信息或者浓度信息等进行检测。另外,受光发光元件模块1例如也可以搭载于机床等,并对被工作物的表面状态进行检测。需要说明的是,受光发光元件模块1并不局限于上述的例子,考虑向各种装置的搭载。
受光发光元件模块1还具有透镜构件5。透镜构件5能够对来自发光元件3的光进行聚光而向被照射物引导。另外,透镜构件5能够对从被照射物反射的反射光进行聚光而向受光元件4引导。另外,受光发光元件模块1还具有遮光体6。遮光体6能够减少预料外的光(杂光)被受光元件4受光的情况。
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