[发明专利]使用电子水平仪标记箱障碍物

权利要求书

1.一种用于基于雷达的水平查找的障碍物标记方法（600），包括：

使用联接到箱（110）的电子水平仪即ELG（140）由当所述箱内的材料（120）处于第一水平时接收到的第一反射信号来生成（608）第一回波曲线（510），所述ELG包括被联接到处理器（141）的收发器（145），所述处理器（141）实施被存储在联接到其的相关联的非暂时性存储器即存储器（142）中的基于雷达的障碍物探测算法即障碍物探测算法（143a），所述障碍物探测算法：

识别（610）所述第一回波曲线中的至少第一特征，以便提供至少一个被怀疑的障碍物（410）及其位置即第一特征位置（546）；

当所述材料处于经过所述第一特征位置的所述箱内的第二水平时，由第二反射信号生成（612）第二回波曲线（540），以致所述第二反射信号在所述第一特征位置处的幅值高于其在所述第一反射信号中的幅值；

当所述材料处于足够高于所述第一水平的所述箱内的第三水平时，由第三反射信号生成（614）第三回波曲线（530），以致所述第三反射信号在所述第一特征位置处的幅值低于其在所述第一反射信号中的幅值；

将所述被怀疑的障碍物识别为位于所述第一特征位置处的经证实的障碍物（346），以及

将所述经证实的障碍物及所述第一特征位置存储（616）在所述存储器中。

2. 根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

合计所述第一回波曲线、所述第二回波曲线和所述第三回波曲线以便生成组合的回波曲线（460）；以及

在所述组合的回波曲线中识别至少一个峰值幅值。

3.根据权利要求2所述的方法，其中，所述至少一个峰值幅值对应于在所述第一特征位置处的所述被怀疑的障碍物。

4. 根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

从彼此中减去所述第一回波曲线、所述第二回波曲线和所述第三回波曲线以便生成组合的回波曲线（470）；以及

从所述第一、第二、第三和组合的回波曲线中识别至少一个最小幅值。

5.根据权利要求4所述的方法，其中，所述最小幅值对应于在所述第一特征位置处的所述经证实的障碍物。

6.根据权利要求1所述的方法，进一步包括：

通过使用基于雷达的水平探测算法即水平探测算法（143b）在所述箱的操作期间由所述ELG进行水平查找，其中，所述水平探测算法自动地利用所述经证实的障碍物及所述第一特征位置来计算材料水平。

7.一种用于联接到箱的电子水平仪即ELG，包括：

被联接到处理器（141）的收发器（145），所述处理器（141）实施被存储在联接到其的相关联的非暂时性存储器即存储器（142）中的基于雷达的障碍物探测算法即障碍物探测算法（143a）和基于雷达的水平探测算法即水平探测算法（143b）两者，所述障碍物探测算法导致所述处理器：

由当所述箱（110）内的材料（120）处于第一水平时接收到的第一反射信号来生成（608）第一回波曲线（510）；

识别（610）所述第一回波曲线中的至少第一特征以便提供至少一个被怀疑的障碍物（410）及其位置即第一特征位置（546）；

当所述材料处于经过所述第一特征位置的所述箱内的第二水平时，由第二反射信号生成（612）第二回波曲线（540），以致所述第二反射信号在所述第一特征位置处的幅值高于其在所述第一反射信号中的幅值；

当所述材料处于足够高于所述第一水平的所述箱内的第三水平时，由第三反射信号生成（614）第三回波曲线（530），以致所述第三反射信号在所述第一特征位置处的幅值低于其在所述第一反射信号中的幅值；并且

将所述被怀疑的障碍物和所述第一特征位置存储（616）在所述存储器中作为经证实的障碍物（346）及所述第一特征位置。

8. 根据权利要求7所述的ELG，其中，所述障碍物探测算法进一步导致所述处理器：

合计所述第一回波曲线、所述第二回波曲线和所述第三回波曲线以便生成组合的回波曲线（460）；以及

在所述组合的回波曲线中识别至少一个峰值幅值。

9.根据权利要求8所述的ELG，其中，所述至少一个峰值幅值对应于在所述第一特征位置处的所述被怀疑的障碍物。