[发明专利]眼镜镜片及其制造方法以及眼镜

说明书

本发明提供眼镜镜片及具有该眼镜镜片的眼镜，该眼镜镜片在镜片基材上具有氧化锡层，所述氧化锡层具有以原子百分比计的含氧率从镜片基材侧向另一侧增加的组成梯度。

关联申请的相互参照

本申请要求2015年3月31日申请的日本特愿2015-073844号的优先权，此处，作为公开特别引用其全部内容。

技术领域

本发明涉及眼镜镜片、该眼镜镜片的制造方法、以及具有该眼镜镜片的眼镜。

背景技术

通常，眼镜镜片具有如下结构：在镜片基材上设置有一层以上的用于赋予各种功能的功能性层。例如，通过在镜片基材上设置导电层(也称为防静电层)，能够防止在眼镜镜片的表面由于带电导致附着灰尘、尘埃的情况，降低附着量。作为这样的导电层，在日本特表2012-522259号公报(此处，作为公开特别引用其全部内容)中公开了一种含有氧化锡的导电层。

发明内容

眼镜镜片在被加工成眼镜后被眼镜佩戴者长期使用。因此，期望设置在眼镜镜片的导电层在长期的使用中良好地持续发挥导电性(防静电性)。然而，根据本发明人的研究，日本特表2012-522259号公报所记载的导电层的导电性会随时间推移而大幅降低。

本发明的一个方式提供一种眼镜镜片，其具有能够长期发挥良好的防静电性的导电层。

本发明的一个方式涉及如下的眼镜镜片：

在镜片基材上具有氧化锡层，

上述氧化锡层具有以原子百分比计的含氧率从镜片基材侧向另一侧增加的组成梯度。

在本发明中，氧化锡层的组成梯度是通过X射线光电子能谱分析测定的。X射线光电子能谱分析称为ESCA(Electron Spectroscopy for Chemical Analysis)或XPS(X-rayPhotoelectron Spectroscopy)，在以下也记载为ESCA。此外，如果没有特别说明，关于与以下记载的氧化锡层相关的含氧率等的组成的数值是通过ESCA测量出的以原子百分比计的数值。为了进行测量，设为在ESCA的分析中，对氧原子使用O1s_1光谱的强度，对锡原子使用Sn3d5_1光谱的强度。

以下是本发明人的推测，不对本发明进行任何限定，本发明人认为上述氧化锡层具有上述的组成梯度这一点有助于减少导电性随时间推移而产生的降低。详细内容如下。

当用组成式Sn_xO_y表示氧化锡时，x和y可以取几个值。其中，已知x＝1、y＝2的SnO₂是化学计量组成的稳定结构。

关于这一点，在日本特表2012-522259号公报中氧化锡记载为SnO₂，但导电性不依赖于从化学计量组成中的氧缺失或掺杂剂的添加(掺杂)就不能够体现。由于在日本特表2012-522259号公报中没有记载向导电层添加掺杂剂，所以可以说日本特表2012-522259号公报所记载的导电层是通过从化学计量组成中发生了氧缺失来体现导电性的。但是，可以认为从化学计量组成中发生了氧缺失的氧化锡为了接近稳定的化学计量组成而处于容易引入氧的状态，随着时间的推移容易被空气中的氧进行氧化。本发明人认为这是日本特表2012-522259号公报所记载的导电层的导电性随时间推移而大幅降低的原因。此处，日本特表2012-522259号公报所记载的导电层是如该公报的权利要求1所记载的那样在离子-辅助下实施其沉积的层，即是通过离子辅助蒸镀而成膜的层(离子辅助蒸镀层)。通过离子辅助蒸镀而成膜的氧化锡层在层内的组成是均匀的，不是在ESCA的测量中具有含氧率的组成梯度的层。

相对于此，上述本发明的眼镜镜片具有的氧化锡层，由于与镜片基材侧相比另一侧即被加工成眼镜来使用时更容易受到空气中的氧的影响的一侧的含氧率高，所以可以认为难以受到氧化。本发明人推测出：这有助于抑制氧化锡层的导电性因氧化而降低，结果能够长期发挥良好的防静电性。