[发明专利]用于气体及火焰检测与成像及测量的单一装置及其漂移校正方法

权利要求书

1.一种用于成像来自一场景的辐射的装置，所述辐射包含分离的至少一第一波长区域及至少一第二波长区域，其特征在于：所述装置包括：

(a)来自所述场景的辐射的一检测器，所述检测器具有一检测器表面及包含：

(i)所述检测器表面的一第一区域包含多个第一检测器组件；

(ii)所述检测器表面的一第二区域与所述检测器表面的第一区域分开，且包含多个第二检测器组件；及

(iii)一滤波设备，包含：

一第一滤波器，具有整合在所述检测器表面的第一区域的多个第一滤波组件；及

一第二滤波器，具有整合在所述检测器表面的第二区域的多个第二滤波组件，其中所述第一滤波器及第二滤波器的每一个具有相应的一通带及一阻带，所述第一波长区域位于所述第一滤波器的通带及所述第二滤波器的阻带内，及所述第二波长区域位于所述第二滤波器的通带及所述第一滤波器的阻带内；

(b)一成像形成光学部件，用于在所述检测器表面的第一区域及第二区域上形成相同场景的一成像，所述辐射通过小于约1.5的光圈数分别并同步成像到所述多个第一检测器组件及多个第二检测器组件，在所述多个第一检测器组件上的成像辐射具有在所述第一波长区域中的辐射，及在所述多个第二检测器组件上的成像辐射具有在所述第二波长区域中的辐射；及

(c)一电子电路，电性耦合至所述检测器，所述电子电路配置为：

(i)从每个相应的检测器组件产生一像素信号，每个像素信号包含与在相应波长区域中的辐射的吸收或发射相关的信息；及

(ii)基于产生的像素信号来确定所述第一波长区域或第二波长区域中的一个存在或不存在具有光谱特性的材料。

2.如权利要求1所述的装置，其特征在于：所述滤波设备是通过在所述检测器的所述检测器表面沉积一基板来整合，所述基板包含所述多个第一滤波组件及所述多个第二滤波组件。

3.如权利要求1所述的装置，其特征在于：所述滤波设备是通过掺杂所述多个第一检测器组件及所述多个第二检测器组件来整合，使所述多个第一检测器组件在所述第一波长区域中对辐射敏感，及所述多个第二检测器组件在所述第二波长区域中对辐射敏感。

4.如权利要求1所述的装置，其特征在于：所述多个第一滤波组件及多个第二滤波组件被配置，使所述多个第一滤波组件的每个滤波组件相邻于所述多个第二滤波组件的至少一相应滤波组件。

5.如权利要求1所述的装置，其特征在于：所述第一区域及所述第二区域为连续区域。

6.如权利要求1所述的装置，其特征在于：所述多个第一滤波组件的每个滤波组件对准所述多个第一检测器组件的一相应检测器组件，及所述多个第二滤波组件的每个滤波组件对准所述多个第二检测器组件的一相应检测器组件。

7.如权利要求1所述的装置，其特征在于：所述检测器包含多个第三检测器组件，所述装置还包含：

(d)不同于所述场景的一辐射源，其中所述成像形成光学部件从所述辐射源的辐射投射至所述多个第三检测器组件上，其中所述电子电路还配置为：

(iii)为所述多个第三检测器组件中的每个检测器组件，从通过所述成像形成光学部件投射至所述多个第三检测器组件上的所述辐射源产生一第二像素信号；及

(iv)根据一预定函数来修改从所述多个第一检测器组件及多个第二检测器组件产生的各个相应的像素信号，用以产生一相应修改像素信号，所述预定函数定义通过一变化环境特征引起由所述多个第一检测器组件及多个第二检测器组件产生在一相应第二像素信号的一变化及所述各个相应的像素信号的一变化之间的一关系。