[发明专利]电离辐射图像数据校正

说明书

在一个示例中，图像数据校正装置被配置成电离辐射探测装置，其中电离辐射探测装置被配置成对透射过物体的多个能量范围内的电离辐射进行探测，该辐射来自辐射源对物体的放射，辐射探测装置包括：第一探测器，用于对透射过物体的第一能量范围内的电离辐射进行探测以产生第一辐射图像数据；第二探测器，被布置成平行于第一探测器，第一探测器和第二探测器之间夹有预定区域，该第二探测器用于对透射过物体的第二能量范围内的电离辐射进行探测以产生第二辐射图像数据。第一探测器和第二探测器被配置成同时接收电离辐射，以使得同时产生第一图像数据和第二图像数据。图像数据校正装置包括；至少一个处理器，和存储有程序指令的至少一个存储器，当通过至少一个处理器执行时，所述程序指令使得装置：基于预定区域的宽度计数地确定第二辐射图像数据的校正值。在其他示例中，结合图像数据校正装置的特征对方法和计算机程序产品进行了讨论。

背景技术

常规地，常见的已经允许诸如X射线或γ射线之类的电离辐射透射过物体，该物体为诸如食物、药物、行李、人类或动物身体等等之类的样本，并且基于透射电离辐射图像进行检查以确定物体，例如确定物体中不同种类物质的存在。对于这种检查，已经使用了电离辐射图像获取装置，该电离辐射图像获取装置包括电离辐射源和线性线传感器(linearline sensor)，该电离辐射源用于向物体放射电离辐射，该线性线传感器用于对从电离辐射源向物体放射的电离辐射的透射图像进行探测。

在本领域已知的是使用双能。在双能成像中，采集两个分离的图像帧。每个图像帧处在不同能级或辐射光谱中。这可通过使用不同的滤波或不同的加速电压等来实现。双能是基于事实：物质中的电离辐射的主要相互作用在不同能量下存在差异。这个差异是特定于物质的。这能够增强对某个未知物质的探测。尤其是关于已知厚度的已知物质，通过移动已知物质来形成图像数据。出于计算目的，采集了来自物质的相同体积的高能量数据和低能量数据。

双能成像主要以三种方式来配置。1)通过在不同能量处相继地采集两个分离图像，使用两个不同的成像管(tube)，或者一个具有不同的能量和滤波并且还能匹配探测器的成像管。2)通过使用一个成像管设置在一次拍摄(shot)中对物体成像，但是使用的是层叠探测器，该层叠探测器的顶层被优化用于低能量，并且过滤光束以供被优化用于高能量的第二探测器所用。3)通过不将探测器置于彼此的上面而是一个接一个地放置。因此，探测器能彼此平行地放置。双能系统可以基于并排(即，平行)的探测器。

授权公布US5841832A和申请公开US2010119038A1讨论了被认为是对理解背景技术有用的信息。

发明内容

所提供的本发明的内容以简单的形式(下面会在详细的说明中来进一步地描述)介绍了一些概念。本发明内容不旨在识别所声明主题的主要特征或本质特征，也不旨在用于限制所声明主题的范围。

在一个示例中，图像数据校正装置被配置成电离辐射探测装置，其中，电离辐射探测装置被配置成在对透射过物体的多个能量范围内的电离辐射进行探测，该辐射来自辐射源对物体的放射，辐射探测装置包括：第一探测器，该探测器用于对透射过物体的第一能量范围内的电离辐射进行探测以产生第一辐射图像数据；第二探测器，该探测器用于对透射过物体的第二能量范围内的电离辐射进行探测以产生第二辐射图像数据，第二探测器被布置成平行于第一探测器，第一探测器和第二探测器之间夹有预定区域。第一探测器和第二探测器被配置成同时接收电离辐射，以使得同时产生第一图像数据和第二图像数据。

图像数据校正装置包括；至少一个处理器，以及存储有程序指令的至少一个存储器，当通过至少一个处理器执行时，该程序指令使得装置：基于预定区域的宽度计数地确定第二辐射图像数据的校正值。

在其他示例中，结合图像数据校正装置的特征对方法和计算机程序产品进行了讨论。

许多附带特征随着这些特征通过参照以下结合附图所考虑的详细描述而变得更好理解而将更易领会。

附图说明

本说明将根据附图来阅读以下详细描述而更好地理解，其中：