[发明专利]硬化层深度测量装置有效
| 申请号： | 201680014059.3 | 申请日： | 2016-03-02 |
| 公开（公告）号： | CN107407659B | 公开（公告）日： | 2020-11-06 |
| 发明（设计）人： | 三阪佳孝;川崎一博;樱井健太;后藤雄治 | 申请（专利权）人： | 高周波热錬株式会社;国立大学法人大分大学 |
| 主分类号： | G01N27/72 | 分类号： | G01N27/72;G01B7/06 |
| 代理公司： | 北京奉思知识产权代理有限公司 11464 | 代理人： | 吴立;邹轶鲛 |
| 地址： | 日本*** | 国省代码： | 暂无信息 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 硬化 深度 测量 装置 | ||
【权利要求书】：
1.一种被构造为测量在淬火工件的表层形成的硬化层的深度的硬化层深度测量装置，该硬化层深度测量装置包括：
激励线圈，该激励线圈被构造为产生磁通量以使所述工件磁化；以及
检测线圈，该检测线圈被构造为检测由所述激励线圈产生的磁通量，
其中，所述激励线圈包括U形的激励芯部和缠绕于所述激励芯部的激励线圈部，所述激励芯部被布置为使得所述激励芯部的磁极的末端面对所述工件，并且
其中，所述检测线圈包括检测芯部和检测线圈，所述检测芯部具有数层磁性片，所述检测线圈缠绕于检测芯部，所述检测芯部被布置为，位于所述激励芯部的所述磁极之间并沿着所述工件的表面。
2.根据权利要求1所述的硬化层深度测量装置，还包括将所述激励线圈与所述检测线圈保持在一起的保持部件。
3.根据权利要求2所述的硬化层深度测量装置，其中，所述保持部件由合成树脂制成。
4.根据权利要求2所述的硬化层深度测量装置，其中，所述保持部件包括定位部，该定位部被构造为将所述保持部件相对于所述工件定位。
5.根据权利要求3所述的硬化层深度测量装置，其中，所述保持部件包括定位部，该定位部被构造为将所述保持部件相对于所述工件定位。
6.根据权利要求1至5的任意一项所述的硬化层深度测量装置，其中，所述检测芯部布置在所述激励芯部的所述磁极之间的中点处。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于高周波热錬株式会社;国立大学法人大分大学，未经高周波热錬株式会社;国立大学法人大分大学许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201680014059.3/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
