[发明专利]用于使用能量解析的断层摄影的定量碘图的重建的方法

权利要求书

1.一种图像处理系统(IPS)，包括：

输入端口(IN)，其用于接收由成像器(IM)采集的、样品的至少一幅输入图像，所述样品包括至少第一物质；

第二输入端口，其用于接收指定至少所述第一物质的测得量的物质参数，其中，所述物质参数是独立于所述至少一幅输入图像的先验信息；

图像重建器(RECON)，其被配置为将所述至少一幅输入图像重建为至少一幅重建图像，所述至少一幅重建图像表示所述样品的所述第一物质的分布或所述样品的第二物质的分布；

其中，所述重建器(RECON)的操作是由经调整的目标函数来驱动的，所述经调整的目标函数包括调整器函数；

其中，所述调整器函数包括具有所述物质参数的至少一个物质项，所述物质参数表示所述样品的至少部分中的至少所述第一物质的所述测得量。

2.根据权利要求1所述的图像处理系统(IPS)，其中，所述物质项表示针对所述第一物质的估计量与所述物质参数的偏差。

3.根据权利要求2所述的图像处理系统(IPS)，其中，所述重建器(RECON)被配置为实施迭代重建算法，其中，针对所述第一物质或所述第二物质的所述估计量是由所述重建器(RECON)在一次或多次迭代中计算的。

4.根据权利要求1-3中的任一项所述的图像处理系统(IPS)，其中，所述样品的所述至少一幅输入图像是在视场中采集的，其中，所述调整器函数的所述物质项被限制于仅表示所述样品的部分的图像元素。

5.根据权利要求1-3中的任一项所述的图像处理系统(IPS)，其中，所述成像器(IM)是具有能量解析探测器(D)的谱成像器，其中，所述至少一幅输入图像是根据在所述能量解析探测器处探测到的图像信号获得的。

6.根据权利要求1-3中的任一项所述的图像处理系统(IPS)，其中，所述成像器(IM)包括能在不同电压下操作的X射线源(XR)，其中，所述至少一幅输入图像是根据针对所述不同电压在所述成像器的探测器(D)处探测到的图像信号获得的。

7.根据权利要求1-3中的任一项所述的图像处理系统(IPS)，其中，所述至少一幅输入图像是所述样品的投影图像。

8.根据权利要求1-3中的任一项所述的图像处理系统(IPS)，其中，所述成像器(IM)是计算机断层摄影扫描器或C型臂X射线系统。

9.根据权利要求1-3中的任一项所述的图像处理系统(IPS)，其中，所述第一物质被限定于所述样品在所述成像器(IM)的视场内的部分。

10.根据权利要求1-3中的任一项所述的图像处理系统(IPS)，其中，所述第一物质或所述第二物质是成像造影剂。

11.根据权利要求10所述的图像处理系统(IPS)，其中，所述成像造影剂被包括在驻留在所述样品中的一个或多个药物洗脱非原生体中。

12.根据权利要求10所述的图像处理系统(IPS)，其中，所述成像造影剂被包括在驻留在所述样品中的支架结构中。

13.根据权利要求1-3中的任一项所述的图像处理系统(IPS)，包括被配置为允许用户指定所述参数的用户接口(UI)。