[发明专利]基材的检测

说明书

一种用于定位基材的方法，所述方法包括：朝向所述基材驱动包括拣选头的拣选机；提供驱动步骤期间至少一个输出值；执行参照驱动，其中，所述拣选机驱动通过用于固定基材的固定夹，以及在参照驱动步骤期间获取至少一个参照输出值或值范围；使基材接触拣选头；提供接触步骤期间的接触值；使拣选头在基材上超程，其中，超程是即使在拣选头已经接触所述基材之后仍然继续驱动包括拣选头的拣选机；和提供超程步骤期间至少一个超程值；以及通过计算所述至少一个参照输出值或值范围与所述至少一个超程值之间的差来定位所述基材；其中，所述基材的位置在差值等于或大于阈值的某个点上；其中，所述至少一个输出值是由于驱动步骤期间拣选头与基材之间的距离出现预期变化，其中，接触值是由于接触步骤期间拣选头与基材之间的距离出现小于预期的变化。

技术领域

本发明大体上涉及基材的检测，不过，更确切地说，是扫描仪内载玻片表面的检测。

背景技术

可以使用拣选机或拣选系统使目标分析物与深孔、孔板、载玻片、试管等基材内部或者表面的悬浮液隔离，或者从所述基材提取悬浮液、溶液或试剂等流体。为此，从业人员、研究人员以及那些在工作中处理悬浮液的人员继续寻求能够更有效、准确地检测基材表面的系统和方法。

附图说明

附图1所示为扫描仪示例。

附图2A-2B所示为附图1所示扫描仪的子系统。

附图3所示为在基材三个不同位置上获取的第二输出。

附图4A所示为重叠的第一输出和第二输出。

附图4B所示为附图4A所示第一输出和第二输出之间的差。

附图5A-5B所示为输出。

具体实施方式

本发明涉及在扫描仪内检测基材表面的系统和方法。

扫描仪和子系统的概述

附图1所示为拆下盖子后扫描仪100的等距视图。所述扫描仪100内含一个具有拣选头104的拣选机102。所述拣选机100是一个使目标分析物或目标材料与样品其他物质隔离的设备。所述拣选机102可以由Z型拣选机电机系统驱动，沿着Z轴运动，该Z型拣选机电机系统可能至少包括一级Z型电机116和二级Z型电机114的其中一个。

所述扫描仪100还包括一个载玻片固定夹106，用于固定和支撑含有样品(例如白血球)或流体(例如试剂)的基材(图中未显示)。所述扫描仪100还可包括一个回转架112，包括第一目标110和偏转探测器108，必要时，转动回转架，使所述第一目标100和偏转探测器108处于基材下方。所述回转架112可包括不止一个目标，必要时，每个目标可以拥有不同的放大级别。偏转探测器108可以是接触式(即，接触或压力传感器)、电容式、光学、声学(即声音)等。Z轴回转架电机118驱动回转架112沿着Z轴运动，例如，朝向和远离基材或载玻片固定夹106。

可以激活载玻片电机120使载玻片固定夹106移动，使基材(图中未显示)水平或正交移动。所述拣选机102可以连接到所述Z型拣选机电机系统；该Z型拣选机电机系统可包括一级Z型电机116和二级Z型电机114。二级Z电机114可是一个振动诱发组件(即，音圈电机、超声换能器或类似)、可是一个以约1-20μm步幅移动的驱动组件、或者这二者的组合，用以诱发振动和驱动拣选头104(即，压电电机或类似)。