[发明专利]用于使用载片缩略图图像的感兴趣区域检测的系统和方法

权利要求书

1.一种用于检测组织载片的缩略图图像上的感兴趣区域AOI的系统，该系统包括：

处理器（220）；以及

耦合至处理器的存储器，该存储器用来存储计算机可读指令，该计算机可读指令当被处理器执行时促使处理器执行包括以下各项的操作：

从耦合至处理器的相机接收缩略图图像；

经由用户界面接收缩略图图像类型的选择，其中缩略图图像类型识别用于安装组织样本和生成缩略图图像的载片的类型或结构；

基于由选择的缩略图图像类型标识的载片的类型或结构，从多个感兴趣区域AOI检测算法中选择感兴趣区域AOI检测算法；

将所选择的感兴趣区域AOI检测算法应用在所述缩略图图像上以执行所述缩略图图像中感兴趣区域AOI的检测；

在基于所选择的感兴趣区域AOI检测算法检测到的感兴趣区域AOI中检测非预期的图像数据，所述非预期的图像数据指示在选择的缩略图图像类型中标识了错误的载片类型；以及

响应于检测到非预期的图像数据，针对所述缩略图图像从所述多个感兴趣区域AOI检测算法中选择另一感兴趣区域AOI检测算法。

2.根据权利要求1所述的系统，其中该缩略图图像类型是从在用户界面上提供的多个缩略图图像类型选择之中选择的。

3.根据权利要求1所述的系统，其中该缩略图图像类型是组织微阵列载片，并且其中将所选择的感兴趣区域AOI检测算法应用在所述缩略图图像上进一步包括：基于二元掩模尝试检测芯的网格，该二元掩模使用根据缩略图图像的图像直方图计算的阈值范围来生成。

4.根据权利要求3所述的系统，其中在检测到的感兴趣区域AOI中检测非预期的图像数据包括确定在缩略图图像中没有检测到芯的网格，并且其中选择另一感兴趣区域AOI检测算法包括选择通用感兴趣区域AOI检测算法。

5.根据权利要求1所述的系统，其中该缩略图图像类型是控制载片，并且其中将所选择的感兴趣区域AOI检测算法应用在所述缩略图图像上进一步包括：尝试检测在缩略图图像中以直线定位的许多芯。

6.根据权利要求5所述的系统，其中在检测到的感兴趣区域AOI中检测非预期的图像数据包括确定没有检测到处于直线的许多芯，并且其中选择另一感兴趣区域AOI检测算法包括选择通用感兴趣区域AOI检测算法。

7.根据权利要求1所述的系统，其中该缩略图图像类型是细胞系载片或等同物，并且其中将所选择的感兴趣区域AOI检测算法应用在所述缩略图图像上进一步包括：在执行对缩略图图像的增强的灰度级版本的下采样版本的梯度幅值执行基于径向对称的投票的同时检测单个组织芯的中心和半径。

8.根据权利要求1所述的系统，其中该缩略图图像类型是涂片载片，并且其中将所选择的感兴趣区域AOI检测算法应用在所述缩略图图像上进一步包括：（i）为从缩略图图像导出的亮度图像和色度图像确定下限阈值和上限阈值；以及（ii）对缩略图图像的亮度图像和色度图像执行滞后阈值法以获得最终有效的二元掩模。

9.根据权利要求8所述的系统，其中基于涂片组织样本遍及涂片载片散布的假设并且基于凭经验确定的面积约束来执行滞后阈值法。

10.根据权利要求1所述的系统，其中该缩略图图像类型是通用载片，并且其中将所选择的感兴趣区域AOI检测算法应用在所述缩略图图像上进一步包括：通过使用基于缩略图图像的直方图计算的阈值范围来获得与玻璃相比的组织区的初始估计。

11.根据权利要求10所述的系统，其中该操作进一步包括：使用尺寸和距离约束来从感兴趣区域AOI检测和丢弃较小的区。

12.根据权利要求1所述的系统，其中该操作进一步包括：生成描绘感兴趣区域AOI组织概率图像的软加权图像。