[发明专利]蓄电装置的制造方法、结构体的检查装置有效
申请号: | 201680006019.4 | 申请日: | 2016-01-28 |
公开(公告)号: | CN107210477B | 公开(公告)日: | 2019-08-20 |
发明(设计)人: | 桥本茂树 | 申请(专利权)人: | 株式会社JET |
主分类号: | G01R31/389 | 分类号: | G01R31/389;G01R31/385;H01M10/42 |
代理公司: | 北京海智友知识产权代理事务所(普通合伙) 11455 | 代理人: | 吴京顺;张倩 |
地址: | 日本*** | 国省代码: | 日本;JP |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 装置 制造 方法 结构 检查 | ||
1.一种蓄电装置的制造方法,包括对结构体进行检查的工序,所述结构体包括一对电极和配置于所述一对电极之间的分离器,其特征在于,
所述结构体的检查工序包括:
将所述结构体判定为不良品的工序,在所述一对电极之间施加固定的检查用电压的同时,每隔规定时间测定伴随施加所述检查用电压的流过所述一对电极之间的电流值,
从刚开始施加所述检查用电压到所述电流值达到固定值期间,如果观测到电流值变化量(ΔI)与时间变化量(Δt)的比(ΔI/Δt)从0以上的值变成负值的点数为两个点以上、或观测不到所述比(ΔI/Δt)从0以上的值变成负值的点,则判定所述结构体为不良品;
将所述结构体判定为不良品的附属工序,在表示电流值I随时间t变化的电流波形中,求出峰电流值Ipeak、峰电流发生时间tpeak和电流面积SI,如果所述峰电流值Ipeak、峰电流发生时间tpeak和电流面积SI中的任一个偏离了具有上限值和下限值的预先设定好的阈值,则将所述结构体判定为不良品。
2.一种结构体的检查装置,所述结构体包括一对电极和配置在所述一对电极之间的分离器,其特征在于,所述检查装置包括:
测定部,包括直流恒定电压发生器和检测电路,所述直流恒定电压发生器用以生成施加到所述一对电极之间的固定的检查用电压,所述检测电路用以检测伴随施加所述检查用电压的流过所述一对电极之间的电流值;
处理部,根据所检测的所述电流值来判定所述结构体的优良与否,
所述处理部具有下述功能:
判定所述结构体为不良品的功能,从刚开始施加所述检查用电压到所述电流值达到固定值期间,如果观测到电流值变化量(ΔI)与时间变化量(Δt)的比(ΔI/Δt)从0以上的值变成负值的点数为两个点以上,或观测不到所述比(ΔI/Δt)从0以上的值变成负值的点,则判定所述结构体为不良品;
判定所述结构体为不良品的附属功能,在表示电流值I随时间t变化的电流波形中,求出峰电流值Ipeak、峰电流发生时间tpeak和电流面积SI,如果所述峰电流值Ipeak、峰电流发生时间tpeak和电流面积SI中的任一个偏离了具有上限值和下限值的预先设定好的阈值,则将所述结构体判定为不良品。
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