[发明专利]应用于数字集成电路的ESD检测装置、集成电路及方法

权利要求书

1.一种应用于数字集成电路的ESD检测装置，其特征在于，包括：

校验读控制模块，配置为发起对触发器集合模块的读操作；其中，所述触发器集合模块包括所述数字集成电路中的所有触发器；

校验运算模块，配置为接收所述触发器集合模块根据所述读操作所传输的触发器值，根据所述触发器值进行校验计算，并根据所述校验计算结果与历史校验计算结果的比较确定是否存在ESD超限；其中，所述触发器值包括所述数字集成电路中所有触发器的触发器值；

还包括：多路选择器模块，配置为当其他模块存在写操作时，传输其他模块的写操作至所述触发器集合模块，否则，发送来自所述校验读控制模块的读操作至所述触发器集合模块；其中，其他模块包括任意可以对触发器集合模块执行写操作的模块。

2.如权利要求1所述的应用于数字集成电路的ESD检测装置，其特征在于，所述校验读控制模块具体配置为CRC校验读控制模块，所述校验运算模块具体配置为CRC校验运算模块。

3.如权利要求1所述的应用于数字集成电路的ESD检测装置，其特征在于，所述校验运算模块包括：

读取请求模块，配置为根据算法位宽接收一组触发器值后，向所述校验读控制模块发送下一组数据的请求信号，直至触发器值计算完毕；

结果比较模块，配置为根据所述触发器值的校验计算结果与历史校验计算结果进行比较，确定是否存在ESD超限。

4.如权利要求3所述的应用于数字集成电路的ESD检测装置，其特征在于，所述校验计算的算法位宽根据所述触发器集合模块中的触发器数量而进行调整。

5.如权利要求4所述的应用于数字集成电路的ESD检测装置，其特征在于，所述结果比较模块具体配置为若所述触发器值的校验计算结果与历史校验计算结果相等，则ESD未超限，否则，ESD超限。

6.如权利要求1所述的应用于数字集成电路的ESD检测装置，其特征在于，还包括：

总线监控模块，配置为当其他模块存在写操作时，将总线标志信号置为第一数值，否则，将总线标志信号置为第二数值；

所述校验运算模块还配置为当所述总线标志信号置为第二数值，且所述触发器值的校验计算结果与历史校验计算结果不相等，则所述ESD超限。

7.一种具有ESD检测功能的数字集成电路，其特征在于，包括：

触发器集合模块，配置为根据ESD读操作，传输所述ESD读操作对应的触发器值；其中，所述触发器集合模块包括所述数字集成电路中的所有触发器；

ESD检测模块，配置为发送所述ESD读操作至所述触发器集合模块，根据接收的所述触发器值进行校验计算，并根据所述校验计算结果与历史校验计算结果的比较确定是否发送ESD超限信号；其中，所述触发器值包括所述数字集成电路中所有触发器的触发器值；

中断产生模块，配置为根据接收的所述ESD超限信号产生中断信号至外部主控制器，令其进行复位操作；

还包括：多路选择器模块，配置为当其他模块存在写操作时，发送其他模块的写操作至所述触发器集合模块，否则，发送所述读操作至所述触发器集合模块；其中，其他模块包括任意可以对触发器集合模块执行写操作的模块。

8.如权利要求7所述的具有ESD检测功能的数字集成电路，其特征在于，所述ESD检测模块包括：

校验读控制模块，配置为发起对触发器集合模块的读操作；

校验运算模块，配置为接收所述触发器集合模块根据所述读操作所传输的触发器值，根据所述触发器值进行校验计算，并根据所述校验计算结果与历史校验计算结果的比较确定是否存在ESD超限。

9.如权利要求8所述的具有ESD检测功能的数字集成电路，其特征在于，所述校验读控制模块具体配置为CRC校验读控制模块，所述校验运算模块具体配置为CRC校验运算模块。