[实用新型]一种快速配光检测装置

说明书

技术领域

本实用新型属于配光检测领域的检测装置，具体涉及一种快速进行配光检测装置。

背景技术

随着半导体照明产业的快速发展，LED由于其发光效率高、光输出定向型好、显色性能优良、可以选择色温等特点，目前正在被更加广泛地应用。LED作为半导体发光光源，其发光原理和光学特性与其他灯具具有很大差异，例如光源高压钠灯、白炽灯等，因此，应形成合适针对LED的配光检测方法。而配光曲线是研究LED配光的重要指标，是反映灯具光强分布情况的重要参数，也是指导照明设计和灯具选择的重要依据。

目前传统LED光强空间分布测量方法主要有三种，旋转反光镜式、运动反光镜式和旋转灯具式。旋转反光镜式最常见的测量方法是采用一个光度探测器，可选择LED光源不动，光度探测器围绕它旋转扫描，也可旋转光度探测器不动，LED光源围绕一个固定中心点旋转，由于测试过程中LED光源在移动，LED光源在不同位置所处的环境不同，易于受环境温度和运动气流影响。运动反光镜式测量方法无需LED光源在空间作大范围的运动，但LED光源反射到探测器上的光束在测量过程中方向会随时变化，但存在测量光束绕圆锥变化，测试距离固定不可调以及对于大型LED光源需要占用较大空间的缺点。中心旋转反光镜式测量需要LED光源在一个相当大的空间范围内作类圆周运动，同时反射镜和辅助轴必须与主轴以相同的角速度反向同步转动，这种测量方式对LED光源的发光稳定性及系统各轴同步转动要求极高。

传统的配光检测方法虽然能得到很精确的光源配光曲线，但是进行灯具的配光检测所需时间长，检测装置需要占用较大空间，操作复杂，不易进行。

发明内容

针对上述现有技术配光检测方法存在的技术问题，本实用新型的目的在于，提供一种快速配光检测装置，以便快速便捷地进行光源的配光检测。

为了实现上述任务，本实用新型采取如下的技术解决方案：

一种快速配光检测装置，包括一个实验暗室，其特征在于，在实验暗室四面设有遮光幕布，实验暗室的环境照度为0.1lx，在实验暗室内距离地面1.2m高度悬挂固定有任意角度旋转的光源；在实验暗室内的地平面上设有米字型图案，该米字型图案位于光源下方，在米字型图案上设置有多个测量点，用于照度计测量米字型图案各测量点的照度值，并将照度值换算成光强值，得到简易的配光曲线。

本实用新型的其它特点是：

所述实验暗室的长度为4m，宽度为2m，高度为1.8m。

所述米字型图案上设置的测量点有9个，其中，第1测量点对应于米字型图案边的长度为0.69m，第2测量点对应于米字型图案边的长度为1.2m，第3测量点对应于米字型图案边的长度为2m，第4测量点对应于米字型图案边的长度为0.44m，第5测量点对应于米字型图案边的长度为0.69m，第6测量点对应于米字型图案边的长度为1.2m，第7测量点对应于米字型图案边的长度为2m，第8测量点对应于米字型图案边的长度为0.44m，第9测量点在光源的垂直中心线上。

所述的任意角度旋转光源由灯具和旋转轴装置组成。

所述旋转轴装置旋转的旋转方式是以逆时针旋转为正，水平线为0°，分别旋转0°、90°、45°和-45°。

所述米字型图案用工字型图案或者田字形图案替代。

本实用新型的快速配光检测装置，操作简单，可以快速便捷地进行灯具的配光检测，得到配光曲线。

附图说明

图1为本实用新型的快速配光检测装置示意图。

图中各代码表示：1、实验暗室、2、旋转轴装置、3、灯具、4、地平面、5、米字型图案、6.1～6.9、测量点。

图2为快速配光检测装置进行检测前的具体操作示意图。

以下结合附图与具体实施方式对本实用新型作进一步的说明。

具体实施方式

参见图1，本实施例给出一种快速配光检测装置，包括一个实验暗室1，在实验暗室1四面设有遮光幕布，实验暗室1的环境照度为0.1lx，在实验暗室1内距离地面1.2m高度悬挂固定有任意角度旋转的光源；在实验暗室1内的地平面4上设有米字型图案5，该米字型图案5位于光源下方，在米字型图案5上设置有多个测量点，用于照度计测量米字型图案5各测量点的照度值，并将照度值换算成光强值，得到简易的配光曲线。

其中，搭建实验暗室1是为了减小测量误差，使得得到的照度值更接近光源的实际照度。